实际上,由于液体介质的折射率相比空气介质更接近曝光透镜镜片材料的折射率,等效地加大了透镜口径尺寸与数值孔径(NA),同时可以 ***提高焦深(DOF)和曝光工艺的宽容度(EL),浸没式光 刻 技 术 正 是 利 用 这 个 原 理 来 提 高 其 分 辨率。世界三 大光刻机 生产商ASML,Niko...
由于193nm沉浸式工艺的延伸性非常强,同时EUV技术耗资巨大进展缓慢。EUV(极紫外线光刻技术)是下一代光刻技术(<32nm节点的光刻技术)。它是采用波长为13.4nm的软x射线进行光刻的技术。EUV光刻的基本设备方面仍需开展大量开发工作以达到适于量产的成熟水平。当前存在以下挑战:(1)开发功率足够高的光源并使系统具有足够的透射率,以实现并保持高吞吐量。(2)掩模技术的成熟,包括以足够的平面度和良率制**射掩模衬底,反射掩模的光化学检测,以及因缺少掩模表面的保护膜而难以满足无缺陷操作要求。(3)开发高灵敏度且具有低线边缘粗糙度(LineEdgeRoughness,LER)的光刻胶。 [3]目的:a、除去表面的污染物(颗粒、有机物、工艺残余、可动离子);相城区省电光刻系统批量定制
得指出的是,EUV光刻技术的研发始于20世纪80年代。**早希望在半周期为70nm的节点(对应逻辑器件130nm节点)就能用上EUV光刻机 [1]。可是,这一技术一直达不到晶圆厂量产光刻所需要的技术指标和产能要求。一拖再拖,直到2016年,EUV光刻机仍然没能投入量产。晶圆厂不得不使用193nm浸没式光刻机,依靠双重光刻的办法来实现32nm存储器件、20nm和14nm逻辑器件的生产。不断延误,对EUV技术来说,有利也有弊。一方面,它可以获得更多的时间来解决技术问题,提高性能参数;另一方面,下一个技术节点会对EUV提出更高的要求。相城区省电光刻系统批量定制在曝光过程中,需要对不同的参数和可能缺陷进行跟踪和控制,会用到检测控制芯片/控片(Monitor Chip)。
在曝光过程中,需要对不同的参数和可能缺陷进行跟踪和控制,会用到检测控制芯片/控片(Monitor Chip)。根据不同的检测控制对象,可以分为以下几种:a、颗粒控片(Particle MC):用于芯片上微小颗粒的监控,使用前其颗粒数应小于10颗;b、卡盘颗粒控片(Chuck Particle MC):测试光刻机上的卡盘平坦度的**芯片,其平坦度要求非常高;c、焦距控片(Focus MC):作为光刻机监控焦距监控;d、关键尺寸控片(Critical Dimension MC):用于光刻区关键尺寸稳定性的监控;
光致抗蚀剂,简称光刻胶或抗蚀剂,指光照后能改变抗蚀能力的高分子化合物。光蚀剂分为两大类。①正性光致抗蚀剂:受光照部分发生降解反应而能为显影液所溶解。留下的非曝光部分的图形与掩模版一致。正性抗蚀剂具有分辨率高、对驻波效应不敏感、曝光容限大、***密度低和无毒性等优点,适合于高集成度器件的生产。②负性光致抗蚀剂:受光照部分产生交链反应而成为不溶物,非曝光部分被显影液溶解,获得的图形与掩模版图形互补。负性抗蚀剂的附着力强、灵敏度高、显影条件要求不严,适于低集成度的器件的生产。纳米级电子束光刻系统(如JEOL JBX-6300FS)维护需原厂或指定服务公司提供 [4]。
显影中的常见问题:a、显影不完全(Incomplete Development)。表面还残留有光刻胶。显影液不足造成;b、显影不够(Under Development)。显影的侧壁不垂直,由显影时间不足造成;c、过度显影(Over Development)。靠近表面的光刻胶被显影液过度溶解,形成台阶。显影时间太长。硬烘方法:热板,100~130C(略高于玻璃化温度Tg),1~2分钟。目的:a、完全蒸发掉光刻胶里面的溶剂(以免在污染后续的离子注入环境,例如DNQ酚醛树脂光刻胶中的氮会引起光刻胶局部爆裂);对准方法:a、预对准,通过硅片上的notch或者flat进行激光自动对准;相城区耐用光刻系统推荐货源
激发化学增强光刻胶的PAG产生的酸与光刻胶上的保护基团发生反应并移除基团使之能溶解于显影液。相城区省电光刻系统批量定制
EUV光刻系统的发展历经应用基础研究至量产四个阶段,其突破得益于多元主体协同创新和全产业链资源整合 [3]。截至2024年12月,EUV技术已应用于2nm芯片量产,但仍需优化光源和光刻胶性能。下一代技术如纳米压印和定向自组装正在研发中 [6]。**光刻系统主要由荷兰ASML、日本Nikon和Canon垄断。国内上海微电子装备股份有限公司研制的紫外光刻机占据中端市场 [7]。科研领域***使用德国SUSS紫外光刻机(占比45%),国产设备在激光直写设备中表现较好 [8]。相城区省电光刻系统批量定制
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