重庆在线ICT测试仪器价格

ICT治具的设计和制作工艺流程，载板制作工艺：（a）采用沉孔型的缩孔技术加工，底部孔径比针套直径大0.3mm～0.4mm，沉孔高度为6mm，顶部孔径比针体直径大0.1mm～0.2mm,这样测试时可保证针尖刺到测试焊盘中心区域。（b）铣槽让位。随着双面多层板的尺寸越来越施压在主芯片散热片正上方的缓冲工装散热片弹簧顶针末端固定在压板上缓冲垫小，为节省测试成本，采用一次测试2拼板或4拼板的ICT治具，与单板测试治具相比，载板铣槽范围成倍数增加，很大削弱载板的机械强度，测试时载板更易变形。为保证载板在测试过程中对PCB上元件提供大的保护并防止弯板，并且大限度地保证载板自身的机械强度，防止测试时载板变形，铣槽让位应根据元件封装大小在载板上铣合适的铣槽空间，一方面能保证焊接面元件的测试安全，另一方面又避免浪费多余的铣槽空间。（c）载板要安装载板螺丝进行嵌位，防止纠正测试时，因弹簧反弹力度过大，造成载板冲击PCB，发生PCB板弹跳现象。现在ICT已可以测试三极管、稳压管、光耦、IC等多种元器件。重庆在线ICT测试仪器价格

导致ICT测试冶具测试不良的原因分析：IC空焊不良（以TestJet测试）测试值偏小，可能原因：1）IC的此脚空焊；2）测试针接触不良；3）从测试点至IC脚之间Open。4）IC此脚的内部不良（可能性极少）；测试值偏大，可能原因：1）有短路现象；2）IC此脚的内部不良（可能性极少）。4．元器件不良，测试值偏差超差比较小，则可能原因：1）器件本身的偏差就这么大；2）ICT测试冶具测试针的接触电阻较大；3）错件、焊接不良、反装。测试值偏差超差比较大，则可能原因：1）器件坏掉；2）测试针坏掉（与该针相连的器件均超差比较大）3）测试点上有松香等绝缘物品；4）PCB上铜箔断裂，或ViaHole与铜箔之间Open。5）错件、漏件、反装；6）器件焊接不良。重庆在线ICT测试仪器价格ICT测试主要测试电性功能测试。

ICT测试治具原理：ict测试治具的制作原理：根据电路板的机械尺寸图，把电路板上面的DIP脚，测试点的位置打孔，然后插针，把电路板中的网络(NET)就是PCB走线，全部引出来，达到外部来用仪器测试其内部是电路结构即可。ict测试治具的工作原理：主要是靠测试探针接触PCB出来的测试点来检测PCB的线路。ict测试治具通常是生产中初道测试工序，能及时反应生产制造状况，利于工艺改进和提升,因其测试项目具体，是现代化大生产品质保证的重要测试手段之一。

ICT测试治具检验标准：1.电源配线是否按+5V为2号针,+12V为15号针,+3.3V为10号针,GND为5号针；2.FIN零件,防呆针是否制成OPEN状态；3.TJ大小是否和IC一样大,是否压到其他零件(大小误差为+/-1mm；4.贴图正看A1是否在左上方；5.弹簧是否全部为16L,弹簧深7mm；6.TestJet牛角是否70mm,锁右上一格,缺口朝下；7.天板(厚5mm):平头螺丝4Φ*10mm长,天板铣沉头；8.压棒平头是否Φ6.3(6.0)*20mm尖头Φ2.0mm*20mm螺丝用圆头3Φ*15mm压棒与零件须距2mm以上距离；9.载板是否铣凹槽提把,60*30*4(mm)；10.天板刮伤目视,例:周边铝柱内不可刮伤；11.周边是否刮除利角,需专门双边例角工具；12.综合检查外观,包装及标示是否到位,是否正确,明显。ICT治具的测量总误差由机器本身的测量误差；通道及接触误差；被测对象的误差三项构成的。

ICT的测量总误差由以下三项构成：1，机器本身的测量误差；2，通道及接触误差；3，被测对象的误差。根据在工程实践中的经验，对于性能良好的ICT，且针床制作及保养良好的条件下，ICT的测试容许误差的上下限可以设定为：1，精密电阻（1%的标称误差）设为3%至5%；一般电阻（5%的标称误差）设为7%至10%；2，精密电容（5%的标称误差）设为10%-15%；3，一般电容（20%的标称误差）设为25%-30%；电感可在标称误差的基础上再加3%至10%；4，二极管一般设定为30%-50%；5，三极管的饱和压降一般只须比较上限，实际上由标准值决定，上限误差设为1%即可。下限可设为0。因为0即表示不做比较判定，备注：而如果三极管工作于放大状态，我们建议在驱动电流栏上设定其设计的静态电流值，然后测其放大倍数，由于不同的电路对三极管的放大倍数的离散性要求不同，因此，放大倍数的上下限可设范围很大。比较可靠的数据应由试验得出。评价ICT治具参数要求：覆盖率=可测试零件数/总零件个数≥85%。重庆在线ICT测试仪器价格

ICT测试治具在使用时，所述测试机构的若干探针是与现有的ICT测试仪相连接的。重庆在线ICT测试仪器价格

ICT测试治具测试是如何读取时间的?ICT测试治具是一种具有检测功能的产品，能减少维修人员与目视人员的数量，降低技术要求，材料与资源的节省，很大降低生产成本。现在我们来介绍下ICT测试治具测试是如何读取时间的?详细内容如下：ICT测试治具可以直接对在线器件电气性能来进行测试，在测试的过程中可以发现产品的不良器件。从内存单元读取数据所需的时间，就是ICT测试治具的存储器读取时间，方法是这样的：1、往单元A写入数据"0"，单元B写入数据"1"，坚持READ为使能状态并读取单元A值。2、地址转换到单元B，实质上就是ICT测试治具丈量内存数据的坚持时间。3、转换时间就是从地址转换开始到数据变换之间的时间。4、暂停时间--内存单元能保持它状态的时间。5、刷新时间--刷新内存的允许时间。6、建立时间--输入数据转换必需提前锁定输入时钟的时间。7、坚持时间--锁定输入时钟之后输入数据必需坚持的时间。8、写入恢复时间--写操作之后的能读取某一内存单元所必须等待的时间。选择ICT测试治具来进行测试处理能够在短短几秒内测出整块电路板的好坏，并告知您它坏在哪个区域及哪个零件，快速解决生产制成问题。重庆在线ICT测试仪器价格