手机SoC的“全能考官” 现代手机SoC(如麒麟、澎湃)是高度集成的“微型超级计算机”,融合CPU、GPU、NPU、ISP、基带等数十个模块。杭州国磊GT600凭借512通道与16个通用插槽,可灵活配置数字、模拟、混合信号测试资源,实现“一机通测”。其高速数字通道验证CPU/GPU逻辑功能;可选AWG板卡生成图像信号,测试ISP的色彩还原与降噪能力;TMU精确测量基带信号时序,保障5G通信稳定。PPMU则检测NPU待机功耗,确保AI功能“强劲且省电”。128M向量深度支持长周期AI算法验证,避免测试中断。杭州国磊GT600以“全功能、高精度、高效率”的测试能力,为国产手机SoC从研发到量产保驾护航,让中国芯在**手机市场更具竞争力。电压上升速度快,100V只需2毫秒!杭州国磊高阻测试系统价位

GT600SoC测试机在测试高可靠性产品(如车规芯片、工业级MCU、航天电子、医疗设备芯片)时,展现出精度、***性、稳定性与可追溯性四大**优势,确保产品在极端环境下长期稳定运行。首先,高精度参数测量是可靠性的基石。GT600配备每通道PPMU(参数测量单元),可精确测量nA级静态漏电流(Iddq),识别因制造缺陷导致的微小漏电或潜在短路。这种“亚健康”芯片在常温下可能功能正常,但在高温或长期使用后极易失效。GT600通过精密筛查,提前剔除隐患,大幅提升产品早期失效率(InfantMortality)的控制能力。其次,支持***的可靠性测试项目。GT600可配合温控系统进行高温老化测试(Burn-in),在高温高压下运行芯片数百小时,加速暴露早期缺陷。其浮动SMU电源板卡能模拟车载12V/24V或工业设备的复杂电源环境,验证芯片在电压波动、负载突变下的稳定性。对于通信类高可靠产品,高精度TMU(10ps分辨率)可检测信号时序漂移,确保长期通信无误码。再次,高稳定性与长周期测试能力。GT600硬件设计冗余,散热优良,支持7x24小时连续运行,可执行长达数周的耐久性测试,模拟产品十年生命周期。128M向量深度确保长周期测试程序不中断,数据完整。***,数据可追溯性强。 杭州国磊高阻测试系统价位AI边缘计算SoC用于机器人、穿戴设备MCU+AI架构芯片,GT600通过nA级PPMU、TMU支持端侧AI低功耗可靠性测试。

智能汽车芯片的“安全卫士” 随着比亚迪、蔚来、小鹏等车企加速自研芯片,车规级MCU、功率半导体需求激增。这些芯片必须通过AEC-Q100等严苛认证,确保在-40℃~150℃极端环境下稳定运行十年以上。杭州国磊GT600凭借每通道PPMU,可精确测量nA级静态漏电流(Iddq),识别因制造缺陷导致的微小漏电,从源头剔除“体质虚弱”的芯片。其浮动SMU电源板卡可模拟车载12V/24V供电系统,验证电源管理单元在电压波动、负载突变下的稳定性,防止“掉电重启”或“逻辑错乱”。杭州国磊GT600还支持高温老化测试(Burn-in)接口,配合温控系统进行早期失效筛选,大幅提升车载芯片的长期可靠性。在“安全至上”的汽车电子领域,杭州国磊GT600以“微电流级检测+真实工况模拟”,为每一程出行筑起安全防线。
国际数据公司(IDC)预测的人工智能服务器市场高速增长(2024年1251亿美元→2028年2227亿美元),本质上是高算力芯片(GPU、ASIC)在功耗、密度与可靠性层面极限挑战的集中体现。每一块AI加速卡背后,都是数百瓦功耗、数千电源引脚、多级电压域、复杂电源门控与瞬态电流管理的设计博弈。而这些,正是国磊GT600SoC测试机凭借其高精度电源与功耗验证能力,**切入并把握产业机遇的技术支点。AI芯片普遍采用7nm/5nm等先进工艺,静态漏电(Leakage)随工艺微缩呈指数增长。国磊GT600通过每通道PPMU,支持nA级静态电流测量,可**识别G**SIC在待机、休眠模式下的异常漏电,确保电源门控(PowerGating)机制有效,避免“隐形功耗”拖累整机能效。其高精度浮动SMU板卡支持-2.5V~7V宽电压输出,可**控制AI芯片的Core、Memory、I/O等多电源域,验证上电时序(PowerSequencing)与电压裕量(VoltageMargining),防止因电源顺序错误导致的闩锁或功能失效。国磊GT600支持电压/电流源同步扫描功能,可用于BGR(带隙基准)温度特性与电源抑制比(PSRR)自动化测试。

低温CMOS芯片的常温预筛与参数表征许多用于量子计算的控制芯片需在毫开尔文温度下工作,但其制造仍基于标准CMOS工艺。在封装并送入稀释制冷机前,必须通过常温下的严格电性测试进行预筛选。杭州国磊(Guolei)GT600支持每引脚PPMU(参数测量单元)和可编程浮动电源(),能精确测量微弱电流、漏电及阈值电压漂移等关键参数,有效剔除早期失效器件,避免昂贵的低温测试资源浪费。量子测控SoC的量产验证平台随着量子计算机向百比特以上规模演进,集成化“量子测控SoC”成为趋势(如Intel的HorseRidge芯片)。这类芯片集成了多通道微波信号调制、频率合成、反馈控制等功能,结构复杂度接近**AI或通信SoC。GT600的512~2048通道并行测试能力、128M向量深度及400MHz测试速率,完全可满足此类**SoC在工程验证与小批量量产阶段的功能覆盖与性能分bin需求。 国磊GT600及GT-AWGLP02板卡THD达-122dB,SNR110dB,适用于音频编解码器、高保真信号链芯片的失真分析。杭州国磊高阻测试系统价位
每通道测试时间<15ms,256通道全测不超过60秒,高效节能。杭州国磊高阻测试系统价位
杭州国磊SOC测试机:开启全场景智能测试新纪元在半导体测试领域,杭州国磊SOC测试机凭借***性能与创新技术脱颖而出,成为行业焦点。作为杭州国磊半导体设备有限公司的**产品,它专为系统级芯片(SoC)测试量身打造,以“弹性扩展+国产自研+全栈覆盖”三大**优势,为芯片测试提供一站式解决方案。 杭州国磊SOC测试机采用模块化弹性架构,拥有GC-36旗舰型、GC-18性能型、GC-8经济型三阶主机箱,灵活适配不同规模产线与实验室验证需求。其***“硬对接+线缆双模式”,支持机柜、桌面、机端部署,极大提升了设备部署的便捷性与灵活性。 在性能方面,杭州国磊SOC测试机实现多项突破。数字信号速率高达800Mbps,向量存储深度达128M,支持多站点并行测试,单机可同步运行32个测试单元,测试吞吐量提升300%,***缩短测试周期。同时,其高压测试范围覆盖-10V至+1000V,时间测量精度达1ps分辨率,满足**AD/DA芯片、MCU微控制单元等复杂芯片的严苛测试需求。 作为国产自研的典范,更在服务响应速度与定制化能力上**一步。其全流程测试覆盖能力,涵盖数字、电源、高压、大功率、射频分析等六大核心板卡矩阵,为芯片从研发到量产的全生命周期提供坚实保障。杭州国磊高阻测试系统价位
手机SoC的“全能考官” 现代手机SoC(如麒麟、澎湃)是高度集成的“微型超级计算机”,融合CPU、GPU、NPU、ISP、基带等数十个模块。杭州国磊GT600凭借512通道与16个通用插槽,可灵活配置数字、模拟、混合信号测试资源,实现“一机通测”。其高速数字通道验证CPU/GPU逻辑功能;可选AWG板卡生成图像信号,测试ISP的色彩还原与降噪能力;TMU精确测量基带信号时序,保障5G通信稳定。PPMU则检测NPU待机功耗,确保AI功能“强劲且省电”。128M向量深度支持长周期AI算法验证,避免测试中断。杭州国磊GT600以“全功能、高精度、高效率”的测试能力,为国产手机SoC从研发到量产保驾...