关于我们
上海伟诺信息科技有限公司成立于2019年，坐落于上海松江。专注于半导体行业系统软件，服务于半导体设计公司及封测厂. 基于完全自主开发的Winner DevPro开发平台，开发了适用于半导体设计公司的ERP系统、运营管理系统、项目管理系统、测... [ 查看详情 + ]
上海伟诺信息科技有限公司成立于2019年，坐落于上海松江。专注于半导体行业系统软件，服务于半导体设计公司及封测厂. 基于完全自主开发的Winner DevPro开发平台，开发了适用于半导体设计公司的ERP系统、运营管理系统、项目管理系统、测... [ 查看详情 + ]
晶圆级良率监控要求系统能处理高密度、高维度的测试数据流。YMS方案自动对接ASL1000、TR6850、MS7000、SineTest等设备，实时汇聚原始测试结果并完成结构化清洗，消除人工干预带来的延迟与误差。系统以图表形式直观呈现晶圆热力图，清晰展示边缘、中心或象限区域的良率差异，辅助工程师判断光刻、刻蚀或沉积环节的均匀性问题。当某批次CP良率异常时，可联动WAT参数变化追溯前道工艺漂移，实现从前端到后端的全链路追溯。多周期报表自动生成并支持多格式导出，满足从产线到高管的信息消费习惯。这种深度...
