国瑞热控推出半导体加热盘**温度监控软件，实现加热过程的数字化管理与精细控制！软件具备实时温度显示功能，可通过图表直观呈现加热盘各区域温度变化曲线，支持多台加热盘同时监控，方便生产线集中管理！内置温度数据存储与导出功能，可自动记录加热过程中的温度参数，存储时间长达1年，便于工艺追溯与质量分析！具备温度异常报警功能，当加热盘温度超出设定范围...

  国瑞热控封装测试**加热盘聚焦半导体后道工艺需求，采用轻量化铝合金材质，通过精密加工确保加热面平整度误差小于 0.05mm，适配不同尺寸封装器件的测试需求。加热元件采用片状分布设计，热响应速度快，可在 5 分钟内将测试温度稳定在 - 40℃至 150℃之间，满足高低温循环测试、老化测试等场景要求。表面采用防粘涂层处理，减少测试过程中污染物...