共聚焦拉曼/荧光扫描成像系统依托高精度Z轴逐层共聚焦扫描能力,可完美实现多层薄膜、复合涂层、堆叠结构、层状复合材料的分层精细分析,彻底解决传统测试层间信号串扰、无法分层检测的问题。系统可精细锁定每一层单独焦平面,分别采集各层的形貌图像、荧光分布与拉曼光谱数据,精细区分不同层的组分差异、结晶状态、性能特性。可精细检测层间扩散、界面反应、层间... 【查看详情】
共聚焦拉曼/荧光扫描成像系统具备高度开放的参数自定义功能,用户可根据样品尺寸、结构特性、信号强度自由设置扫描范围、步进大小、曝光时间、积分次数、激光功率、成像分辨率等全部测试参数,适配各类个性化、精细化的科研测试需求。针对微弱信号样品,可延长积分时间、降低激光功率、增加平均次数,提升信号纯度与数据精细度;针对大尺寸均匀样品,可增大扫描步距... 【查看详情】
共聚焦拉曼/荧光扫描成像系统可通过光谱信号强度梯度变化,间接精细判定功能镀膜、薄膜涂层的厚度分布均匀性,快速识别局部偏薄、偏厚、镀膜缺失等工艺缺陷。薄膜厚度直接影响拉曼与荧光信号的响应强度,系统通过标准化标定曲线,可精细关联光谱参数与膜层厚度,实现膜层厚度的无损定量评估。结合全域Mapping扫描可直观展示整面样品的厚度分布云图,精细定位... 【查看详情】
共聚焦拉曼/荧光扫描成像系统凭借超高空间分辨率与精细定点测试能力,可实现微纳颗粒、单纳米结构、微纳团聚体的精细定位与单颗粒单独光谱测试,有效规避基底信号、周边颗粒信号的串扰干扰。系统可精细锁定单个微纳颗粒的测试位点,单独采集单颗粒拉曼光谱与荧光信号,精细分析单颗粒的物相结构、结晶度、缺陷状态与光学特性。可对比不同单颗粒的物性差异,解析颗粒... 【查看详情】
众韦光电磁光克尔综合测试系统针对软磁材料低矫顽力、易磁化、易退磁的特性优化测试算法,可精细捕捉软磁薄膜、软磁纳米结构的微弱磁滞回线变化,精细提取极小矫顽力、高剩磁比、磁导率等关键参数。系统通过磁畴成像可直观观测软磁材料在弱磁场下的磁畴快速翻转、畴壁灵活迁移特征,解析软磁材料低损耗、高响应的微观机理。系统可精细识别软磁材料杂质、缺陷导致的磁... 【查看详情】
Wayne3labs标准荧光寿命测试系统,采用共聚焦激发和收集方式,可通过滤光片组或单色仪与单光子探头组合采集基于TCSPC技术的荧光寿命数据。并且可配合二维电动样品台或振镜系统实现荧光寿命扫描成像测量。样品台可增配精度更高的压电扫描台,可适配低温系统、气氛环境等。 应用场景也非常较多,比如:半导体发光材料中载流子弛豫及扩散研究、半导体发... 【查看详情】
荧光寿命扫描成像系统相比传统强度成像具有不可替代的优势:首先,寿命是分子固有参数,不受浓度、激发功率、滤片与光漂白影响,数据更稳定;第二,对微环境高度敏感,可定量检测 pH、离子、温度、极性与分子结合;第三,可区分光谱重叠的荧光团,实现多通道同时成像;第四,抑制自发荧光干扰,提升深层组织与复杂样本的信噪比;第五,支持无标记代谢成像,避免外... 【查看详情】
共聚焦拉曼/荧光扫描成像系统可精细表征各类掺杂改性材料的微观状态,有效评估离子掺杂、元素掺杂、官能团改性的实际效果与作用机制。掺杂元素会改变材料晶格结构、分子振动模式与电子结构,引发拉曼光谱峰位、峰强、半高宽的规律性变化,系统可通过精细光谱分析判定掺杂是否成功、掺杂浓度相对大小与掺杂均匀性。通过Mapping成像可直观展示掺杂组分的空间分... 【查看详情】
共聚焦拉曼/荧光扫描成像系统可精细表征各类表面改性、涂层修饰、官能团接枝的功能材料,有效评估材料表面改性工艺效果与应用稳定性。可通过特异性官能团拉曼特征峰,精细判定目标基团是否成功接枝、接枝浓度相对大小与表面分布均匀性,直观呈现改性层的覆盖状态与厚度均匀性。可精细分析改性层与基底的界面结合状态,识别界面空洞、脱附、杂质等缺陷,判定改性层附... 【查看详情】
共聚焦拉曼/荧光扫描成像系统可精细表征各类掺杂改性材料的微观状态,有效评估离子掺杂、元素掺杂、官能团改性的实际效果与作用机制。掺杂元素会改变材料晶格结构、分子振动模式与电子结构,引发拉曼光谱峰位、峰强、半高宽的规律性变化,系统可通过精细光谱分析判定掺杂是否成功、掺杂浓度相对大小与掺杂均匀性。通过Mapping成像可直观展示掺杂组分的空间分... 【查看详情】
湖北众韦光电微区偏振二次谐波产生系统集成高精度共聚焦光路系统,可精细过滤非焦平面杂散光与散射信号干扰,大幅提升样品成像对比度与层间分辨率,解决传统设备多层结构成像模糊、层间信号串扰的问题。系统支持0.1μm超小步进连续扫描,可完成样品平面方向信号采集,通过软件算法精细重构样品非线性光学空间结构,立体呈现材料内部微观结构、缺陷分布、性能差异... 【查看详情】
湖北众韦光电荧光寿命扫描成像系统支持时间序列连续采集,可对细胞运动、药物响应、材料老化、生化反应等动态过程进行全程记录,捕捉不同时间节点的寿命变化。系统配备高速数据缓存与实时处理模块,在连续成像时不丢失关键帧信息,保持时序数据完整。扫描模式支持自定义间隔与循环次数,可根据动态过程快慢调整采集节奏,兼顾时间覆盖与数据量控制。软件可对时序数据... 【查看详情】