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外延系统基本参数
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外延系统企业商机

与传统 MBE 技术对比,传统 MBE 技术在半导体材料、氧化物薄膜等材料生长领域应用已久,有着成熟的技术体系。然而,公司产品与之相比,在多个方面展现出独特优势。生长速率是一个重要对比点,传统 MBE 生长速率相对较慢,这在一定程度上限制了实验效率和生产效率。本产品通过优化分子束流量控制和激光能量调节,可在保证薄膜质量的前提下,适当提高生长速率,例如在生长 III/V 族半导体薄膜时,生长速率可比传统 MBE 提高 20% - 30% ,较大缩短了实验周期和生产时间,提高了科研和生产效率。可编程温控系统支持复杂升降温工艺曲线。脉冲激光沉积外延系统技术

脉冲激光沉积外延系统技术,外延系统

产品具备较广的适用性,适用于III/V、II/VI族元素以及其他异质结构的生长,无论是常见的半导体材料,还是新型的功能材料,都能通过该设备进行高质量的薄膜沉积。并且,基板支架尺寸范围从10×10毫米到4英寸,可满足不同尺寸样品的实验需求,无论是小型的基础研究样品,还是较大尺寸的应用研究样品,都能在设备上进行处理,极大地拓展了设备在科研中的应用范围。

公司产品在科研领域拥有众多突出优势,助力科研工作高效开展。超高真空是一大明显优势,其基本压力能从 5×10⁻¹⁰至 5×10⁻¹¹mbar ,在这样的环境下,薄膜沉积过程中几乎不会受到杂质干扰,保证了薄膜的高纯度和高质量。例如在半导体材料外延生长时,高真空环境可避免气体分子与生长原子碰撞,减少缺陷产生,为制造高性能半导体器件奠定基础。 基质辅助脉冲沉积外延系统技术指标针对高挥发性材料可选用阀控裂解源设计。

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该系统在拓扑量子材料研究领域具有前瞻性应用。拓扑绝缘体、狄拉克半金属等新型量子材料因其奇特的物理性质而备受关注,如碲化铋、碲化钼等。利用MBE技术,可以在绝缘衬底上实现原子级平整的拓扑绝缘体薄膜的外延生长。通过与其他材料(如磁性掺杂的超晶格)结合,可以研究其表面态的拓扑输运性质,并为未来低功耗电子器件和拓扑量子计算提供材料基础。除此之外,在新能源材料探索方面,该系统是制备高效催化剂薄膜的理想平台。例如,用于电解水制氢的析氧反应催化剂,其活性与表面原子结构密切相关。利用PLD技术,可以精确制备出具有特定晶面取向的钙钛矿氧化物、尖晶石氧化物薄膜模型催化剂。通过在这种清洁、结构明确的模型体系上进行电化学测试和原位表征,能够建立催化剂结构与性能之间的构效关系,为指导设计下一代高效、稳定的实用化催化剂提供理论基础。

工艺参数的优化对于根据不同材料和应用需求提高实验效果至关重要。在生长速率方面,不同材料有着不同的适宜生长速率范围。以生长III/V族半导体材料为例,生长砷化镓(GaAs)薄膜时,生长速率一般控制在0.1-1μm/h之间。若生长速率过快,原子来不及在基板表面有序排列,会导致薄膜结晶质量下降,出现较多缺陷,影响半导体器件的电学性能;若生长速率过慢,则会延长实验周期,降低生产效率。

为了找到比较好的工艺参数组合,通常需要进行大量的实验探索。可以采用正交实验设计等方法,系统地改变温度、压力、生长速率等参数,通过对制备出的薄膜进行结构、成分和性能分析,如利用 X 射线衍射(XRD)分析薄膜的结晶结构,用扫描电子显微镜(SEM)观察薄膜的表面形貌,从而确定较适合特定材料和应用需求的工艺参数,以实现高质量的薄膜生长和良好的实验效果。 可视窗口配备百叶窗,便于观察等离子体羽辉现象。

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软件编程在复杂薄膜结构生长中优势明显。对于具有复杂结构的薄膜,如超晶格结构,其由两种或多种材料周期性的交替生长而成,每层薄膜的厚度和成分都有严格要求。通过软件编程,科研人员可精确控制不同材料分子束的开启和关闭时间,以及相应的生长参数,实现原子级别的精确控制。以生长GaAs/AlGaAs超晶格结构为例,软件可精确控制GaAs层和AlGaAs层的生长厚度和成分比例,保证超晶格结构的周期性和准确性,从而获得具有优异电学和光学性能的薄膜,为高性能光电器件的制备提供了有力支持。系统支持与溅射技术联用进行复合薄膜制备。基质辅助脉冲沉积外延系统技术指标

小型研究开发场景中,此 PLD 系统体积适中,节省实验室空间。脉冲激光沉积外延系统技术

在宽禁带半导体材料研究领域,我们的PLD与MBE系统发挥着举足轻重的作用。以氧化锌(ZnO)为例,它是一种具有优异压电、光电特性的III-VI族半导体。利用PLD技术,通过精确控制激光能量、沉积气压(尤其是氧气分压)和基板温度,可以在蓝宝石、硅等多种衬底上外延生长出高质量的c轴择优取向的ZnO薄膜。这种薄膜是制造紫外光电探测器、透明电极、压电传感器和声表面波器件的理想材料。系统的RHEED监控能力可以实时优化生长条件,确保获得表面光滑、晶体质量高的外延层。脉冲激光沉积外延系统技术

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