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外延系统基本参数
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沉积参数的优化是一个系统性的实验过程。对于一种新材料,需要探索的参数通常包括:激光能量密度(它决定了等离子体羽辉的强度和特性)、沉积腔内的背景气体种类(如氧气、氮气或氩气)与压力、基板温度以及靶材与基板之间的距离。这些参数相互关联,共同影响着薄膜的结晶性、取向、化学计量比和表面形貌。通常需要通过设计多组实验,在沉积后对薄膜进行X射线衍射、原子力显微镜、扫描电镜等表征,反推的工艺窗口。

在沉积过程结束后,样品的降温过程也需要进行控制,特别是对于在氧气氛围中生长的氧化物薄膜。快速降温可能导致薄膜因热应力而开裂,或者因氧原子的非平衡析出而形成大量缺陷。因此,通常需要在沉积结束后的氧气氛围中,让样品在设定温度下进行原位退火一段时间,然后以可控的缓慢速率(如每分钟5-10摄氏度)降温至室温。这一“原位退火”步骤对于弛豫薄膜内应力、优化氧含量、提高薄膜的结晶质量和功能性至关重要。 基板加热前,需设定好温度,确保不超过 1200 摄氏度且温差 < 3%。基质辅助脉冲沉积外延系统冷却

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基板在沉积过程中的旋转功能对于获得成分和厚度高度均匀的薄膜至关重要。在PLD过程中,激光烧蚀产生的等离子体羽辉(Plume)具有一定的空间分布,通常呈中心密度高、边缘密度低的余弦分布。如果基板静止不动,沉积出的薄膜将会中间厚、边缘薄,形成一道“山峰”。通过让基板绕其中心轴匀速旋转,薄膜的每一个点都会周期性地经过羽辉的中心和边缘,对沉积速率进行时间上的平均,从而有效地补偿了羽辉空间分布的不均匀性,从而获得厚度变化率小于±2%的优异均匀性。外延系统多少钱基板加热过程中,需监控温度,避免超出设定范围影响实验。

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公司设备在氧化物薄膜制备方面表现优异,在功能材料研究中应用较广。对于高温超导材料,如钇钡铜氧(YBCO)薄膜的制备,设备能精确控制各元素的比例和沉积速率,在高真空环境下,避免杂质干扰,生长出高质量的超导薄膜。这种高质量的超导薄膜在超导电子器件、超导电缆等方面有着重要应用,可大幅降低电能传输损耗,提高电力系统的效率。在铁电材料研究中,如制备锆钛酸铅(PZT)薄膜,设备可精确控制薄膜的结晶取向和微观结构,使其具有优异的铁电性能。PZT薄膜在压电传感器、随机存取存储器等领域应用得心应手,其优异的铁电性能可提高传感器的灵敏度和存储器的存储密度。设备在氧化物薄膜制备方面的出色表现,为功能材料研究提供了有力支持,推动了相关领域的技术进步。

系统的超高真空成膜室是整个设备的心脏,其性能直接决定了所能制备薄膜的质量上限。我们的腔室采用SUS304不锈钢材质,经过精密焊接和严格的氦质谱检漏,确保其真空密封性。内表面经过电解抛光处理,这一工艺极大地减少了材料的表面积,降低了腔体壁在真空下吸附的气体分子数量以及在受热时的出气率,是实现并维持较高真空(<5E-8 Pa)的关键。在这样的环境下,气体分子的平均自由程远大于腔室的尺寸,使得从靶材飞出的等离子体羽辉(Plume)能够几乎无碰撞地直达基板,同时也保证了沉积前基板表面可以长时间保持原子级别的清洁。电子束蒸发源与热蒸发源可同时集成于系统中。

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在规划实验室空间布局时,需充分考量设备的尺寸和操作流程,以保障操作的便利性和安全性。设备的主体部分,像工艺室、负载锁定室等,应安置在实验室的中心区域,方便操作人员进行各项操作和监控。由于工艺室尺寸为450毫米,且带有可更换的底部法兰,可连接10个端口DN63CF用于蒸发源,其占地面积较大,所以要预留足够空间,避免与其他设备产生干涉。样品准备区应紧邻设备的负载锁定室,便于样品的装载和传输。该区域可设置样品清洗台、干燥设备和样品架等,确保样品在进入设备前得到妥善处理。考虑到设备的基板支架尺寸范围从10×10毫米到4英寸,样品准备区要能容纳不同尺寸的样品,并提供相应的操作空间。较少成本购入研究级纯进口 PLD 系统,大幅降低科研设备投入。基质辅助脉冲沉积外延系统冷却

该 PLD 系统可满足 1-2 英寸靶材使用需求,适配多种实验场景。基质辅助脉冲沉积外延系统冷却

清洁后的样品要进行固定,确保其在设备内的传输和沉积过程中位置稳定。根据样品的尺寸和形状,选择合适的样品架和固定装置,如夹具、胶带等。对于圆形样品,可使用专门的圆形样品架,通过夹具将样品固定在架上,保证样品中心与样品架中心重合;对于方形样品,可采用胶带将其固定在样品架上,注意胶带要粘贴牢固且不能遮挡样品表面。

日常维护对于保持设备的性能和延长使用寿命至关重要。定期清洁设备是必不可少的维护工作,使用干净的无尘布和适当的清洁剂,擦拭设备的外表面、真空腔室内部以及各部件的表面,去除灰尘、油污和沉积物。特别要注意清洁靶材支架、样品台等关键部位,防止杂质积累影响实验结果。 基质辅助脉冲沉积外延系统冷却

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