福建金刚石器件及电路芯片测试

南京中电芯谷高频器件产业技术研究院有限公司对外提供光电芯片技术开发及工艺流片服务，以满足客户的需求。公司集聚了一批行业专业人才，具备丰富的经验和技能。公司通过不断深耕技术领域，实现了多项重要成果的转化和应用。同时，公司还积极与国内外科研机构和高校合作，加强技术交流与合作，不断提升自身的科研水平和创新能力。公司坚持以客户需求为导向，努力为客户提供高效、高质量的光电芯片解决方案。同时，公司在光电芯片工艺及测试方面也不断创新和优化，提高质量和效率。凭借公司的创新能力和技术实力，南京中电芯谷高频器件产业技术研究院有限公司将在光电芯片领域展现出更加出色的表现，为推动我国光电产业的发展做出积极贡献。芯谷高频研究院的高功率密度热源产品适用于微系统或微电子领域的热管、微流以及新型材料的散热技术开发。福建金刚石器件及电路芯片测试

南京中电芯谷高频器件产业技术研究院有限公司对外提供异质异构集成技术服务，可进行以下先进集成材料制备和研发：1)单晶AlN、LiNbO3压电薄膜异质晶圆，用于SAW、BAW、XBAR等高性能射频滤波器；2)厚膜LiNbO3、薄膜LiNbO3异质晶圆，用于低损耗光学平台；3)AlGaAs-on-insulator，绝缘体上AlGaAs晶圆，用于光量子器件等新一代片上光源平台；4)Miro-Cavity-SOI，内嵌微腔的绝缘体上Si晶圆，用于环栅GAA，MEMS等器件平台；5)SionSiC/Diamond，解决传统Si衬底功率器件散热低的瓶颈；6)GaNonSiC，解决自支撑GaN衬底高性能器件散热低的瓶颈；7)支持特定衬底功能薄膜材料异质晶圆定制研发。海南热源芯片开发芯谷高频公司拥有芯片研发与制造能力，能够高效地完成芯片流片，包括太赫兹、异质异构集成等领域芯片。

南京中电芯谷高频器件产业技术研究院有限公司是国内为数不多拥有先进太赫兹测试能力的单位之一。公司能够进行高效准确的测试工作，可以测试至400GHz的各类元器件、MMIC电路及模块的散射参数测试和器件建模。此外，公司还能够实现高达500GHz的电路功率测试和噪声测试。这些能力展示了公司在太赫兹测试领域较强的实力。通过持续的创新和研发，公司不断拓展技术边界，为客户提供更加专业、高质量的服务。作为高频器件产业企业，公司为整个行业的发展贡献着自己的力量。南京中电芯谷高频器件产业技术研究院有限公司将继续致力于太赫兹测试技术的创新和应用，为推动整个行业的进一步发展做出更大的贡献。

南京中电芯谷高频器件产业技术研究院有限公司的热物性测试仪产品能够准确、高效地测试材料的热物性，为研究人员提供数据支撑。公司的热物性测试仪产品无论在技术指标、测试精度还是稳定性方面都达到了先进水平。该设备操作简单方便，准确性高，能够满足多种测试需求，包括热导率分析、热阻分析等。南京中电芯谷高频器件产业技术研究院有限公司的热物性测试仪产品可以解决材料的热评估难题，市场认可度高，将为科研工作注入新的活力。芯谷高频研究院太赫兹测试能力，可以测试至400GHz的各类元器件、MMIC电路及模块的散射参数测试和器件建模。

南京中电芯谷高频器件产业技术研究院有限公司作为一家新型研发机构，旨在推动高频器件产业的发展，研究院具有良好的孵化能力。研究院以其较强的技术实力和丰富的行业经验，为上下游企业提供支持和协助。通过技术研发和技术转移，研究院能够帮助企业实现技术创新和产业升级，从而实现更好的发展和壮大。无论是从产品设计与研发，还是从生产与制造，乃至于市场与营销，研究院都可以与企业保持紧密合作。研究院拥有先进的研发设备和仪器，拥有专业的技术人才，能够解决各种复杂的技术问题。同时，研究院还积极与高校和科研机构合作，进行技术交流与合作。通过产学研相结合的方式，共同探索高频器件产业技术的前沿，为企业提供更多的创新动力和发展空间。未来，研究院将继续致力于技术创新，为高频器件产业的持续发展注入新的活力和动力，助力企业实现跨越式发展，走向更加广阔的未来。芯谷高频研究院的聚焦离子束电镜系统可以进行表面形貌、剖面层结构分析以及元素成分分析，分辨率达到10nm。陕西石墨烯器件及电路芯片工艺技术服务

芯谷高频研究院在背面工艺方面，拥有键合机、抛光台、磨片机等，可以进行晶片的减薄、抛光以及划片工艺。福建金刚石器件及电路芯片测试

南京中电芯谷高频器件产业技术研究院有限公司对外提供InGaAs太赫兹零偏SBD技术开发服务，该芯片具有低势垒高度与高截止频率的特点，支持零偏压毫米波、太赫兹混频、检波电路，可大大减小电路噪声，提高电路动态范围，且可以简化系统架构。在太赫兹安检和探测等场景中，零偏太赫兹检波模块是非常重要的器件。南京中电芯谷高频器件产业技术研究院有限公司致力于为客户提供先进的技术解决方案，其服务范围较广，涵盖了整个技术开发周期，包括需求分析、方案设计、器件制造等多个方面。福建金刚石器件及电路芯片测试