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    单片清洗工艺避免了不同硅片之间相互污染，降低了产品缺陷，提高了产品良率。可选择的，清洗液采用氧化硫磺混合物溶液和过氧化氨混合物溶液。可选的，进一步改进，清洗液采用h2so4:h2o2配比范围为6:1～4:1且温度范围为110℃～140℃的过氧化硫磺混合物溶液；以及，nh4oh:h2o2:h2o配比为1:℃～70℃的过氧化氨混合物溶液。本发明采用等离子体氮氢混合气体能与主要光刻胶层和第二光刻胶层反应生成含氨挥发性化合物气体，且与主要光刻胶层和第二光刻胶层反应速率相等能更高效的剥离去除光刻胶，能有效减少光刻胶残留。进而避免由于光刻胶残留造成对后续工艺的影响，提高产品良率。附图说明本发明附图旨在示出根据本发明的特定示例性实施例中所使用的方法、结构和/或材料的一般特性，对说明书中的描述进行补充。然而，本发明附图是未按比例绘制的示意图，因而可能未能够准确反映任何所给出的实施例的精确结构或性能特点，本发明附图不应当被解释为限定或限制由根据本发明的示例性实施例所涵盖的数值或属性的范围。下面结合附图与具体实施方式对本发明作进一步详细的说明：图1是本发明的流程示意图。图2是一现有技术光刻胶剥离去除示意图一，其显示衬底上形成介质层并旋图光刻胶。平板显示用剥离液哪里可以买到；佛山BOE蚀刻液剥离液销售电话

    根据对华新光电、日东集团的剥离液成分进行分析得知，剥离液主要成分为单乙醇胺(MEA)，二甲亚砜(DMS0)和二乙二醇单丁醚(BDG)，其中市场上大部分以二乙二醇单丁醚居多。剥离液废液多呈深黑色且气味大，由以下几种组分构成：（1）、1～20%重量的醇胺或者酰胺，以伯胺和肿胺为主。（2）、10～60%重量的醇；（3）、10～50%重量的水；（4）、5～50%重量的极性有机溶剂，如；N-甲基吡咯烷酮（NMP），环丁基砜、二甲基亚砜（DMSO）、二甲基乙酰胺、N-乙基甲酰胺等。（5）、～3%重量的金属抗蚀剂，如2-氨基环己醇、2-氨基环戊醇等。根据上述分析可以看出，剥离液中大部分是有机溶剂，可以加以回收资源化利用，或者将剥离废液进行脱色净化处理后再用于生产中，配成剥离液。当前国内主要产生剥离液的厂家主要分布在天津及深圳一带，均是高新技术发达区域，随着国内经济及城市的发展，剥离液产废地点将越来越，也将引起环保的重视及关注。 广东哪家剥离液配方技术使用剥离液，轻松剥离各种材料。

    高世代面板)表面上，或透入其表面，而把固体物料润湿，剥离液亲水性良好，能快速高效地剥离溶解光刻胶。因此，本申请中的高世代面板铜制程光刻胶剥离液由酰胺、醇醚、环胺与链胺、缓蚀剂、润湿剂组成。其中，酰胺可以为n-甲基甲酰胺、n-甲基乙酰胺、n，n-二甲基甲酰胺中的任意一种或多种，酰胺是用于溶解光刻胶；n-甲基甲酰胺下面简称″nmf″醇醚为二乙二醇丁醚、二乙二醇甲醚、乙二醇甲醚、乙二醇乙醚中的任意一种或多种，醇醚是用于润湿、膨润、溶解光刻胶的；二乙二醇丁醚下面简称″bdg″。环胺与链胺，用于渗透、断开光刻胶分子间弱结合力；链胺：分子量的大小决定瞬间溶解力，分子量过大瞬间溶解力小，光刻胶未被完全溶解；分子量过小，对金属的腐蚀性增强，影响产品质量。分子量一般在50g/mol-200g/mol，链胺为乙醇胺、二乙醇胺、三乙醇胺、二甘醇胺、异丙醇胺、甲基二乙醇胺、amp-95中的任意一种或多种；环胺：溶解光刻胶中环状结构的树脂，包括氨乙基哌嗪、羟乙基哌嗪、氨乙基吗啉中的任意一种或多种；上述链胺与环胺的比例在4∶1-1∶4之间。缓蚀剂，用于降低对金属的腐蚀速度，缓蚀剂为三唑类物质，具体为苯并三氮唑、甲基苯并三氮唑中的任意一种。润湿剂。

    所述功能切换口外部并联有高纯水输入管线和沉淀剂输入管线，所述二级过滤罐的底部设有废液出口，所述一级过滤罐和二级过滤罐内部均悬设有拦截固体成分的过滤筒。上述的光刻胶废剥离液回收装置，所述一级过滤罐和二级过滤罐的结构相同，均由外壳、悬设于外壳内的过滤筒、扣装于过滤筒顶部的压盖组成，所述压盖中心设有对应进料管路的通孔，所述过滤筒由均匀布设多孔的支撑筒体、设于支撑筒体内表面的金属滤网、设于金属滤网表面的纤维滤布组成，所述支撑筒体的上沿伸出外壳顶部并利用水平翻边支撑于外壳上表面，所述金属滤网的上沿设有与支撑筒体的水平翻边扣合的定位翻边，所述支撑筒体的底面为向筒体内侧凹陷的锥面。上述的光刻胶废剥离液回收装置，所述搅拌釜设有ph计，用于检测溶液ph值。本实用新型的有益效果是：使用时，先将高纯水与光刻胶废剥离液在搅拌釜内搅拌均匀，形成固液混合物，打开一级过滤罐进料管路上的电磁阀，固液混合物进入一级过滤罐的过滤筒中，先由一级过滤罐的过滤筒过滤得到一级线性酚醛树脂，滤液由提升泵送往搅拌釜的循环料口，往复设定次数后，一级线性酚醛树脂回收完成，关闭一级过滤罐进料管路上的电磁阀。剥离液可以用在什么地方；

    本发明下述示例性实施例可以多种不同的形式来实施，并且不应当被解释为只限于这里所阐述的具体实施例。应当理解的是，提供这些实施例是为了使得本发明的公开彻底且完整，并且将这些示例性具体实施例的技术方案充分传达给本领域技术人员。如图1所示，本发明提供的光刻胶剥离去除方法主要实施例，用于半导体制造工艺中，可应用于包括但不限于mos、finfet等所有现有技术中涉及光刻胶剥离去除的生产步骤，主要包括以下步骤:s1，在半导体衬底上淀积介质层；s2，旋涂光刻胶并曝光显影，形成光刻图形阻挡层；s3，执行离子注入：s4，采用氮氢混合气体执行等离子刻蚀，对光刻胶进行干法剥离；s5，对衬底表面进行清洗。本发明刻胶剥离去除方法主要实施例采用能与主要光刻胶层和第二光刻胶层反应生成含氨挥发性化合物气体，与主要光刻胶层和第二光刻胶层反应速率相等的等离子体氮氢混合气体能更高效的剥离去除光刻胶，有效降低光刻胶残留。进而避免由于光刻胶残留造成对后续工艺的影响，提高产品良率。参考图11和图12所示，在生产线上采用本发明的光刻胶剥离去除方法后，监控晶圆产品缺陷由585颗降低到32颗，证明本发明光刻胶剥离去除方法的的改善的产品缺陷，促进了产品良率的提升。剥离液可以实现光刻胶的剥离；广东哪家剥离液配方技术

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