本实用新型涉及资源回收再利用领域,特别是涉及含铜蚀刻液气液分离装置。背景技术:线路板生产工业中,会对已经使用于蚀刻线路板的含铜蚀刻废液进行回收利用,在回收过程中,废液在加热器中通过蒸汽进行换热,换热完的废液在高温状态下进入分离器,会在分离器中发生闪蒸,闪蒸产生的二次蒸汽中,携带有大小不等的液滴,现有技术因缺乏有效的分离气液的手段,含有铜的液体随着蒸汽被排走,导致了产品发生损失。技术实现要素:基于此,有必要针对现有技术气液分离率低的问题,提供一种含铜蚀刻液气液分离装置。一种含铜蚀刻液气液分离装置,包括分离器及加热器,所述分离器设有液体入口、蒸汽出口及滤液出口,所述液体入口用于将加热器产生的液体输入至分离器中,所述液体入口处设有减压阀,所述蒸汽出口处设有真空泵、除雾组件及除沫组件,所述除雾组件用于过滤分离器中闪蒸的蒸汽中的含铜液体,所述除沫组件用于将经除雾组件除雾的气体进行除沫。在其中一个实施例中,所述除雾组件为设有多个平行且曲折的通道的折流板。在其中一个实施例中,所述除沫组件为丝网。在其中一个实施例中,所述分离器设有液位计、液位开关、液相气相温度传感器和压力传感器。在其中一个实施例中。选择博洋蚀刻液,提升蚀刻效率,降低成本。广州银蚀刻液蚀刻液生产
当该风刀装置40的***风刀41与该第二风刀42为了减少该基板20上所残留的药液51而吹出该气体43时,该气体43碰到该挡液板结构10后部分会往该复数个宣泄孔121流动,并朝向该第二挡板12的该上表面123宣泄而出,除了保有原有挡液板的防止该药液51喷溅而造成的蚀刻不均现象,亦可达到以破真空的原理避免该气体43在该基板20附近形成涡流而造成真空吸引问题;此外,为了避免由该喷洒装置50喷洒而出的药液51滴入该基板20上而造成蚀刻不均的问题,因此,该复数个宣泄孔121的孔径a0必须要足够小,例如:孔径a0小于3mm,即可因毛细现象的作用,亦即该水滴于该宣泄孔121孔洞内的夹角θ等于该水滴与该第二挡板12的该上表面123所夹的接触角θ4,而达到防止位于该第二挡板12的该上表面123的药液51水滴经由该复数个宣泄孔121滴下至该基板20上。由上述的实施说明可知,本实用新型的挡液板结构与以之制备的蚀刻设备与现有技术相较之下,本实用新型具有以下优点。本实用新型的挡液板结构与以之制备的蚀刻设备主要借由具有复数个宣泄孔的挡液板结构搭配风刀装置的硬体设计,有效使风刀装置吹出的气体得以经由宣泄孔宣泄,并利用水滴的表面张力现象防止水滴由宣泄孔落下造成基板蚀刻不均等异常现象。佛山ITO蚀刻液蚀刻液溶剂BOE蚀刻液厂家直销价格。
ITO显影剂也称为造影剂或对比剂,是一种X光无法穿透的药剂,用于让体内组织在X光检查时能看得更清楚。例如消化道摄影时,医师会让患者喝下一杯显影剂溶液(大多含钡),然后用各种角度照相,就能让胃肠道看得很清楚。如果显影只是在光强较大的地方产生游离银,而对底片不做进一步处理,则把它一拿出暗室,未显影的卤化银就会立刻曝光。此后,几乎任何还原剂都将使底片完全形成灰雾。为了克服这个问题,必须找到一种适当的物质以除去未还原的卤化银。黑白照相中较常用的定影液是硫代硫酸钠溶液。其中的硫代硫酸根离子(S2O32-)与银离子形成可溶于水的稳定配合物,因而达到“固定”底片的目的。ITO显影液的市场需求会随着电子行业的快速发展而不断增长。
提高反应体系的稳定性。当体系中加入过氧化氢后有助于提高过氧化氢的稳定性,避免由于过氧化氢分解而引发的,提高生产的安全性。具体实施方式下面结合实施例,对本发明的具体实施方式作进一步描述。以下实施例用于更加清楚地说明本发明的技术方案,而不能以此来限制本发明的保护范围。一种酸性铜蚀刻液的生产工艺,所述工艺包括以下步骤:第一步:将纯水进行低温处理,使纯水温度≤10℃在纯水罐中备用;纯水罐中设有通过电路控制的电磁阀,当纯水温度高于10℃时,电磁阀无法打开。第二步:配制和准备原料,将亚氨基二乙酸、氢氟酸和乙醇酸分别投入对应的原料罐中,经过过滤器循环过滤,备用;将hno3、四甲基氢氧化铵、h2o2分别投入对应的原料罐,备用。亚氨基二乙酸、氢氟酸和乙醇酸需要稀释后使用,hno3、四甲基氢氧化铵、h2o2无需调配可直接用于制备蚀刻液。第三步:根据混酸配制表算出各个原料的添加量,按照纯水→亚氨基二乙酸→氢氟酸→hno3→四甲基氢氧化铵→乙醇酸的顺序依次将原料加入调配罐,将上述混料充分搅拌,搅拌时间为3~5h。第四步:在第三步的混料中再添加h2o2,继续搅拌混匀,搅拌时间为3~5h,用磁力泵将混合液通过过滤器循环过滤。蚀刻液的价格哪家比较优惠?
如上所述的挡液板结构,其中宣泄孔的孔径小于3毫米(millimeter,mm)。如上所述的挡液板结构,其中宣泄孔为千鸟排列或矩阵排列等其中的一种排列方式。如上所述的挡液板结构,其中宣泄孔为直通孔或斜锥孔等其中的一种态样或两者的混合。如上所述的挡液板结构,其中宣泄孔具有一***壁面,以及一第二壁面,且第二挡板具有一下表面,当宣泄孔为斜锥孔态样时,***壁面与下表面的***夹角不同于第二壁面与下表面的第二夹角。如上所述的挡液板结构,其中当宣泄孔为斜锥孔态样时,宣泄孔的上孔径与下孔径不相等。如上所述的挡液板结构,其中当宣泄孔为斜锥孔态样时,宣泄孔的上孔径小于下孔径。如上所述的挡液板结构,其中当宣泄孔为斜锥孔态样时,宣泄孔由第二挡板的下表面朝向上表面的方向渐缩。此外,为了达到上述的实施目的,本实用新型另提出一种蚀刻设备,设置于一湿式蚀刻机的一槽体内,蚀刻设备至少包括有一如上所述的挡液板结构、一基板、一输送装置,以及一风刀装置;基板设置于挡液板结构的下方;输送装置设置于基板的下方,输送装置包括有至少一滚轮,其中滚轮与基板接触以运行基板;风刀装置设置于挡液板结构的一端部,风刀装置包括有一设置于基板上方的***风刀。剥离液是用于光刻胶剥离用的化学品。广州银蚀刻液蚀刻液生产
蚀刻液的分类可以分为哪些?广州银蚀刻液蚀刻液生产
本发明涉及蚀刻液组合物及选择添加于该蚀刻液组合物的硅烷系偶联剂的方法。背景技术:参照图1,可以确认3dnand闪存(flashmemory)制造工序中的一部分。3dnand闪存可以通过在包含氧化物膜和氮化物膜的膜中*选择性去除氮化物膜的工序(wetremovalofnitride)来制造。在不损伤氧化物膜的同时将氮化物膜完全去除是这样的氮化物膜去除工序(wetremovalofnitride)的**技术之一。一般而言,氮化物膜去除工序中所使用的蚀刻液组合物利用具有防蚀能力的添加剂以获得在不损伤氧化物膜的同时*将氮化物膜完全去除的效果。但是,想要在不损伤氧化物膜的范围内将氮化物膜完全去除时,会使用防蚀能力强的添加剂,由此可能发生氮化物膜没有被完全去除的工序不良(参照图2)。此外,想要将氮化物膜完全去除时,会使用防蚀能力弱的添加剂,由此虽然氮化物膜被完全去除,但是可能发生对氧化物膜也造成损伤(damage)的工序不良(参照图3)。以往,为了在包含氧化物膜和氮化物膜的多层膜中*将氮化物膜选择性完全去除而选择具有适当水平的防蚀能力的添加剂时,按照添加剂的种类和浓度通过实验进行确认。没有这样的实验确认就选择添加剂实际上是不可能的。广州银蚀刻液蚀刻液生产