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    磁转子12放置在待加工部件20的待加工表面上，用于通过旋转对待加工部件20的待加工表面进行机械研磨，对待加工表面进行减薄。由于减薄过程中待加工部件20如inp基晶圆本身不旋转，因此，可以降低抛光减薄过程中对待加工部件20如inp基晶圆的挤压应力，降低待加工部件20如inp基晶圆的机械加工损伤。可选地，本发明实施例中通过光刻胶键合固定待加工部件20和托盘10。当然，本发明并不限于此，在其他实施例中，待加工部件20和托盘10还可以采用其他胶体进行键合固定。基于此，如图2所示，本发明实施例中的抛光减薄装置还包括热板14，该热板14设置在托盘10底部，用于对托盘10进行加热，以使待加工部件20与托盘10键合固定。具体地，将待加工部件20背面喷涂厚度约为2μm的光刻胶21，如az4620光刻胶，然后在托盘10表面喷涂厚度约为3μm的光刻胶21，如az4620光刻胶，之后，将托盘10光刻胶面向上放于温度为90℃的热板14上，将待加工部件20光刻胶面和托盘10光刻胶面贴合，在2×10-2mabr真空下，施加1bar压强于待加工部件20上进行键合，键合时间20min。本发明实施例中，采用喷头11向待加工部件20的待加工表面喷涂抛光液110，来对待加工部件20的待加工表面进行抛光。需要说明的是。芜湖哪家减薄用清洗剂推荐货源苏州质量好的减薄用清洗剂的公司。

    图2为所述蚀刻区的结构示意图；图3为所述玻璃加工治具的种结构正视图；图4为所述玻璃加工治具的第二种结构正视图；图5为图3中的局部放大图；图6为所述玻璃加工治具的结构俯视图；图7为所述底支撑件的结构正视图；图8为所述底支撑件的结构侧视图。图中数字表示：1-转换区；2-冲洗区；3-蚀刻区；4-玻璃加工治具；31-腔室；32-主厚度测量仪；33-喷淋组件；41-底座；42-支撑架；43-底支撑件；44-侧支撑件；421-竖直平板；422-侧板；423-固定板；424-水平槽；425-竖直槽；426-固定槽；427-固定卡块；428-定位槽；429-定位孔；431-支撑条；432-第二支撑条；433-连接部；434-接触部；435-磁性件；436-第二磁性件；437-限位孔；438-限位块；439-第二限位块。具体实施方式以下结合附图，对本发明上述的和另外的技术特征和优点作更详细的说明。实施例一如图1所示，图1为所述玻璃减薄设备的结构视图；本发明中所述玻璃减薄设备包括转换区1、冲洗区2和蚀刻区3，所述冲洗区2设置于所述转换区1和所述蚀刻区3之间，竖直容纳在玻璃加工治具4中的多个玻璃通过所述转换区1被加载到所述冲洗区2中，在所述冲洗区2中进行减薄前清洁并且在所述蚀刻区3中经历减薄处理。

    来对所述待加工表面进行减薄。可选地，还包括：在所述磁转子运行一段时间后，更换所述磁转子。可选地，将待加工部件固定在托盘上包括：采用光刻胶将所述待加工部件固定在所述托盘上。可选地，对所述待加工部件的待加工表面进行抛光和减薄之后，还包括：对所述待加工部件进行清洗；采用特定溶液对所述光刻胶进行腐蚀，以将所述待加工部件与所述托盘分离。与现有技术相比，本发明所提供的技术方案具有以下优点：本发明所提供的抛光减薄装置和抛光减薄方法，采用托盘固定待加工部件，采用喷头向待加工部件的待加工表面喷涂抛光液，来对所述待加工表面进行抛光，采用磁转子旋转对待加工表面进行机械研磨，来对所述待加工表面进行减薄，由于减薄过程中待加工部件如inp基晶圆本身不旋转，因此，可以降低抛光减薄过程中对待加工部件如inp基晶圆的挤压应力，降低待加工部件如inp基晶圆的机械加工损伤。附图说明为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。哪家公司的减薄用清洗剂的品质比较好？

    所述控制器进行第二次减薄厚度确认操作；具体的，通过设置于所述第三冲洗区2的第二辅助厚度测量仪进行厚度检测，从而实现所述减薄厚度确认操作，当所述减薄厚度未达到目标厚度时，所述玻璃加工治具4可再次进入所述蚀刻区3内进行减薄处理。所述主厚度测量仪32设置在其中对玻璃施加减薄处理的所述蚀刻区3中并且实时测量玻璃厚度，使得玻璃可更准确地具有目标厚度；所述辅助厚度测量仪设置在所述冲洗区2中，并且再次测量经历过减薄处理的玻璃的厚度，因此可以检查设置在所述蚀刻区3中的所述主厚度测量仪32是否无法正确工作，并且使减薄玻璃的缺陷率降至；且所述辅助厚度测量仪可提前测量待经历减薄处理的玻璃的厚度，因此可以检查设置在蚀刻区3中的主厚度测量仪32是否无法正确工作；所述第二辅助厚度测量仪设置在所述第三冲洗区2，从而在减薄后清洗终完成后，再次进行厚度检测，从而检测预从所述玻璃减薄生产线运出的玻璃是否符合标准，并进一步降低减薄玻璃的缺陷率。以上所述为本发明的较佳实施例，对本发明而言是说明性的，而非限制性的。本专业技术人员理解，在本发明权利要求所限定的精神和范围内可对其进行许多改变，修改，甚至等效，但都将落入本发明的保护范围内。去除涂层，减薄用清洗剂是您的得力助手。江苏哪家减薄用清洗剂销售公司

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    本发明涉及半导体制造技术领域，更具体地说，涉及一种抛光减薄装置和抛光减薄方法。背景技术：采用iii-v族化合物制作的半导体器件和超高速数字/数模混合电路等凭借其优良的频率特性，已经成为通讯、雷达、制导、空间防御、高速智能化武器及电子对抗等现代化装备的部件之一。在众多的iii-v族化合物中，inp(磷化铟)化合物具有独特的优势，这主要得益于其优良的材料特性，例如，inp和ingaas(铟镓砷)之间的晶格失配很小，以及电子饱和速率很高等，所以不论是hemt(highelectronmobilitytransistor，高电子迁移率晶体管)结构还是hbt(heterojunctionbipolartransistor，异质结双极晶体管)结构，都具有非常优异的高频、大功率性能。但是，inp材料的物理性能却很差，非常易碎，很小的碰撞或振动都会导致晶圆碎裂而前功尽弃，因此，inp材料的制造加工面临着很多工艺上的难题。尤其是在超高频率、大功率的inp基rfic(射频集成电路)的制造工艺中，如何在对inp基晶圆进行减薄抛光时，减小或避免inp基晶圆的损伤是本领域技术人员亟待解决的问题之一。技术实现要素：有鉴于此，本发明提供了一种抛光减薄装置和抛光减薄方法，以减小或避免inp基晶圆的减薄抛光损伤。为实现上述目的。扬州哪里减薄用清洗剂