探针台分类探针台从操作上来区分有：手动探针台、半自动探针台和全自动探针台。从功能上来区分有：温控探针台、真空探针台（很低温探针台）、RF探针台、LCD平板探针台、霍尔效应探针台和表面电阻率探针台。高精度探针台：目前世界出货量的型号吸收了新的工艺科技例如OTS，QPU和TTG相关技术，这种全新的高精度系统为下一代小型化的设计及多种测试条件提供保证。特性-近的位置对正系统（光学目标对准）OTS通过对照相机相对位置的测量来保证其位置的精度。这是非常引人注目的技术，来源于东京精密的度量技术。实现了以自己为参照的光学对准系统。探针台测试过程中使用的电学规格随测试的目的而有所不同。浙江温控探针台
探针台是检测芯片的重要设备，在芯片的设计验证阶段，主要工作是检测芯片设计的功能是否能够达到芯片的技术指标，在检测过程中会对芯片样品逐一检查，只有通过设计验证的产品型号才会量产。晶圆测试一般在晶圆厂、封测厂或专门的测试代工厂进行，主要用到的设备为测试机和探针台。半导体的测试环节，主要包括芯片设计中的设计验证、晶圆制造中的晶圆测试（CP测试）和封装完成后的成品测试（FT测试）。半导体测试设备主要包括测试机、探针台和分选机。在所有的测试环节中都会用到测试机，不同环节中测试机需要和分选机或探针台配合使用。湖南芯片探针台探针测试这一过程是非常精密的，要有很高的专业水平和经验才能完成。
探针台是用于检测每片晶圆上各个芯片电信号，保证半导体产品品质的重要检测设备。下面我们来了解下利用探针台进行在片测试的一些相关问题，首先为什么需要进行在片测试？因为我们需要知道器件真正的性能，而不是封装以后的，虽然可以去嵌，但还是会引入一些误差和不确定性。因为我们需要确定哪些芯片是好的芯片来降低封装的成本并提高产量。因为有时我们需要进行自动化测试，在片进行自动化测试成本效益高而且更快。一个典型的在片测试系统，主要包括：矢量网络分析仪，线缆，探针，探针定位器，探针台，校准设备及软件，电源偏置等。
电缆安装探针既可以手动使用，也可以与多轴探针定位器一起使用。与典型的探针台不同，这些探针足够大，操作员可以手动使用，非常可靠。探针定位器的位置精度和可重复性更高，而且本身可以放置，便于进行测试。与探针台不同，同轴电缆安装探针和定位器可以在工程师或技术人员的典型测试台上用作网络分析仪、信号发生器、频谱分析仪、示波器和其他用于射频/微波、毫米波和高速数字应用的配件。电缆安装射频探针的占位面积小、无损坏，并且具有非侵入式设计，可在高密度应用中进行测试，例如天线阵列、超材料、分形天线、微带传输线、紧凑组件以及具有微小表面安装包装组件的印刷电路板。探针尖如果氧化，接触电阻变大。
实现芯片测试的途径就是探针卡。探针卡是自动测试仪与待测器件之间的接口，我们通过探针卡把测试仪和被测芯片连接起来。典型的探针卡是一个带有很多细针的印刷电路板，这些细针和待测器件进行物理和电学接触，通常我们习惯的做法是做一个与每个管芯焊盘几何形状匹配的PCB电路板，并把它连接到测试设备上。探针测试这一过程是非常精密的，要有很高的专业水平和经验才能完成。把晶圆片安放在一个可移动的金属板上。这样，在水平和垂直两个方向上，可以手动或者自动移动晶圆片，并通过探针卡实现这一部分的电子线路连接。无论是全自动探针测试台还是自动探针测试台，工作台都是其主要的部分。湖南芯片探针台
一般，信号路径电阻被用来替代接触电阻，而且它在众多情况下更加相关。浙江温控探针台
探针台为研究和工程实验室在测试运行期间移动通过多个温度点时，提供前所未有的自动化水平。这种新技术使探针系统能够感知，学习和反应以多温度和特征的极其复杂的环境。随着集成电路产品不断进入汽车应用等更高发热量的环境，在越来越宽的温度范围内表征器件性能和耐用性变得越来越重要。以前，大多数芯片在两个温度点进行晶圆级测试，通常为20˚C（室温）和90˚C。现在，该范围已经扩大到-40˚C至125˚C，并且可能需要在此范围内的四个温度步骤中进行一整套测试。某些情况下需要更普遍的范围，如-55˚C至200˚C，晶圆可靠性测试可能要求高达300˚C的温度。浙江温控探针台
