探针台基本参数
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探针台企业商机

针尖异常(开裂,折断,弯曲,破损):操作过程中,由于操作工操作不当造成.1.针尖没有装好保护盖而针尖朝下直接放到设备上.2.取卡时针尖不小心碰撞.3.用细砂子打磨针尖时用力太猛使针尖弯曲.4.上高度时Z键打到快档,承片台上升过快,而撞到针尖.5.装打点器时不小碰伤。6.调针时镊子碰伤针尖等等,都要造成针尖开裂,扎断,弯曲,破损。这种情况一般马上就能发现问题,必须把它取下来反放到显微镜下修复针尖,恢复到原来位置,如确实调不好的针,应到焊卡设备上重新换针,而一般进过修理过的探卡,使用时间会缩短且容易误测,所以对这种情况都应严格禁止发生,平时对操作人员应加强培训,取针卡时应装好保护盖,针尖不要碰到设备上,用细砂子砂针尖时应轻轻打磨,上高度时,把Z键打到慢档,缓慢上升承片台,找准接触点。探针卡常见故障分析及维护方法:芯片测试是IC制造业里不可缺少的一个重要环节。湖北手动高低温探针台厂家

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探针氧化:通常探针是由钨制成的,它如果长期不用,针尖要形起氧化,针尖如果氧化,接触电阻变大,测试时参数测不稳,为了不使它氧化,我们平时必须保护好探针卡,把它放在卡盒里,存放在氮气柜中,防止探针的加快氧化,同时测片子时,用细砂子轻轻打磨针尖并通以氮气,减缓氧化过程。针尖高低不平(若针尖高度差在30UM以上):探针卡使用一段时间后,由于探针加工及使用过程中的微小差异导致所有探针不能在同一平面上会造成。某些针尖位置高的扎不上AL层,使测试时这些针上电路不通。湖北手动高低温探针台厂家手动或者自动移动晶圆片,并通过探针卡实现这一部分的电子线路连接。

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探针台是用于检测每片晶圆上各个芯片电信号,保证半导体产品品质的重要检测设备。下面我们来了解下利用探针台进行在片测试的一些相关问题,首先为什么需要进行在片测试?因为我们需要知道器件真正的性能,而不是封装以后的,虽然可以去嵌,但还是会引入一些误差和不确定性。因为我们需要确定哪些芯片是好的芯片来降低封装的成本并提高产量。因为有时我们需要进行自动化测试,在片进行自动化测试成本效益高而且更快。一个典型的在片测试系统,主要包括:矢量网络分析仪,线缆,探针,探针定位器,探针台,校准设备及软件,电源偏置等。

如何判断探针卡的好坏:1.可以用扎五点来判断,即上中下左右,五点是否扎在压点内,且针迹清楚,又没出氧化层,针迹圆而不长且不开叉.2.做接触检查,每根针与压点接触电阻是否小于0.5欧姆.3.通过看实际测试参数来判断,探针与被测IC没有接触好,测试值接近于0。总之,操作工只要了解了探针卡故障的主要原因:1.探针氧化.2.针尖有异物(铝粉,墨迹,尘埃).3.针尖高度差.4.针尖异常(开裂,折断,弯曲,破损)。.5.针尖磨平.6.探针卡没焊好.7.背面有突起物,焊锡线头.8.操作不当。平时操作时应注意:1.保护好探针卡,卡应放到氮气柜中.2.做好探针卡的管理工作.3.规范操作,针尖不要碰伤任何东西。同时加强操作人员的技能培训。有利于提工作效率和提高质量。有数据表明探针测试台的故障中有半数以上是工作台的故障。

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某些针尖位置低的扎伤AL层,对后续封装压焊有影响,使芯片与封装后成品管脚焊接质量差,容易引起短路.某些针尖压痕太长,超出PAD范围,使PAD周围的铝线短路.所以平时我们操作时应找准接触点,把过行程设置为2~4MILS或70~100UM时,每个压点都有很清楚的针迹,然后再把过行程设置为0时,看清楚每个压点上都有轻轻的针迹,如果某些压点上没有针迹,就需要用镊子把这根针压下,如果某些压点上针迹太重,而需要有镊子把这根针往上抬一下,使针尖的高度差调在30UM以内,然后做接触检查,每根针与压点接触电阻应小于0.5欧姆,样片/样管测试是否OK,合格、失效管芯各测10遍,看重复性与稳定性。随着探针开始接触并逐渐深入焊点氧化物和污染物的表层,接触电阻减小而电流流动迅速开始。甘肃芯片测试探针台机构

PCB生产完毕后,直接对PCB进行测试。湖北手动高低温探针台厂家

探针台主要应用于半导体行业、光电行业、集成电路以及封装的测试。普遍应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发,旨在确保质量及可靠性,并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。晶圆测试是芯片制造产业中一个重要组成部分,是主要的芯片良品率统计方法之一。随着晶圆片直径的逐渐增大且密度逐渐提高,晶圆测试的难度和成本也越来越高,也使得芯片需要更长的测试时间以及更加精密复杂的机械装置和计算机系统来执行测试工作和监控测试结果。湖北手动高低温探针台厂家

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