深圳光束偏漂移测试光束质量分析仪

美国 DataRay Inc. 成立于 1988 年，总部位于加州 Monterey，是 ISO-11146 激光光束分析领域的**。公司专注于为科研、工业和医疗客户提供“相机式”和“狭缝扫描式”两大类光束质量分析仪，波长覆盖 190 nm – 16 µm（深 UV 至远红外），可测光束直径小到 0.5 µm、大到 200 mm，产品全部在美国本土制造。相机式光束分析仪•WinCamD-LCM：4.2MPixel，2048×2048，11.3mm×11.3mm，USB3.0，355-1150nm标准，1480-1610nmTEL版本可选。•BladeCam-HR：超紧凑46×46×11.5mm，1280×1024，USB供电，适合空间受限场景。•TaperCamD-LCM：25×25mm大靶面，4.2MPixel，60fps@512×512，高功率/大光束**。•WinCamD-IR-BB：VOx微测辐射热计，2-16µm，640×480，30fps，MWIR/FIR波束成像。•WinCamD-QD：量子点传感器，350-2000nm，15µm像素，全局快门，SWIR/eSWIR应用。WinCamD 能够清晰捕捉从强到弱的光强分布，适用于散射光分析等复杂光束的测量。深圳光束偏漂移测试光束质量分析仪

光束分析仪测量 M² 的方法光束质量因子 M² 是评估激光光束质量的重要参数，表示实际激光光束与理想高斯光束的接近程度。以下是光束分析仪测量 M² 的主要方法和步骤：1. 标准多次成像法根据国际标准化组织（ISO 11146）标准，多次成像法是测量 M² 的常用方法。具体步骤如下：光束采样：在光束传播路径上，使用光束分析仪在多个不同位置（通常至少10个）采集光束的横截面图像。这些位置应包括光束腰两侧的一个瑞利长度内（|z|<zR）和两个瑞利长度之外（|z|>2zR）。数据拟合：通过分析采集到的光束宽度数据，利用双曲线拟合方法计算 M² 值。2. 单次成像法单次成像法通过一次成像获取光束传播的关键参数，并基于光场传输理论推导出 M² 值。这种方法的**在于：近场光斑测量：使用光束分析仪采集单幅激光近场光斑。模式分解与光场重构：通过模式分解技术得到激光的各本征模式占比及相对相位，进而重构光场分布并计算得到 M² 值。北京激光光束质量分析仪厂家WinCamD-IR-BB的探测器采用氧化钒微测热辐射计，具有较高的热灵敏度和空间分辨率。

DataRay 的 HyperCal™ 动态噪声校正技术可以显著提高测量精度。5. 机械和光学系统精度高精度机械控制系统：机械转动系统和位移测量系统的精度直接影响测量结果。采用高精度的机械控制系统和位移测量技术（如莫尔条纹测距方法）可以显著提高测量精度。光学系统校准：定期校准光学系统，确保光束质量分析仪的光学系统处于比较好状态。6. 环境和操作条件控制温度和振动控制：在稳定的环境条件下（如恒温、低振动）进行测量，可以减少环境因素对测量精度的影响。操作规范：按照操作规范进行测量，确保测量过程的准确性和一致性。7. 多次测量和统计分析多次测量：通过多次测量并取平均值，减少随机误差对测量结果的影响。统计分析：对测量数据进行统计分析，评估测量结果的可靠性和重复性。8. 校准和验证定期校准：定期使用标准光源或已知光束质量的激光器对光束质量分析仪进行校准。第三方验证：通过第三方机构对光束质量分析仪进行验证，确保其测量精度。通过以上方法和措施，光束质量分析仪能够实现高精度的测量，确保激光光束质量参数的准确性和可靠性。

确保系统性能光通信：在光纤通信系统中，高质量的光束可以减少传输损耗，提高信号的传输效率和质量。光谱分析：在光谱分析中，高质量的光束可以提高测量的精度和可靠性。5. 质量控制和标准化生产质量控制：在激光器的生产过程中，M² 测量可以用于质量控制，确保每台激光器的光束质量符合标准。国际标准：M² 测量符合国际标准（如 ISO 11146），为激光器的性能评估提供了统一的参考。6. 故障诊断和维护故障诊断：通过定期测量 M² 值，可以及时发现激光器的性能变化，帮助诊断潜在的问题。维护：在激光器的维护过程中，M² 测量可以用于验证维修和调整的效果。总结M² 测量在激光器研发中具有重要意义，它不仅帮助研发人员评估和优化激光器的光束质量，还能提高激光器在各种应用中的效率和性能。通过精确的 M² 测量，可以确保激光器的高质量输出，满足科研、工业、医疗和通信等多个领域的需求。通过对比WinCamD-IR-BB的测量结果与仪器自身的测量结果，发现并修正仪器的误差。

自动校正功能HyperCal™ 动态噪声和基线校正：提高测量精度。MagND™ 可堆叠磁性 ND 滤光片：提供多种衰减选项。6. 多种波长选项标准波长范围：355 nm 至 1150 nm。可选波长范围：UV 选项：190 nm 至 1150 nm。1310 nm 选项：355 nm 至 1350 nm。TEL 选项：1480 nm 至 1610 nm。7. 软件功能强大**全功能软件：支持 ISO 11146 标准，提供 M²、D4σ、Knife-Edge 等参数测量。实时数据处理：支持实时非均匀性校正（NUC）与背景扣除。多相机支持：支持多台相机并行采集，提高测量效率。DataRay WinCamD光束分析仪对经过粗糙铝表面散射后的激光光束进行空间分布分析，包括散射光束形貌表征。上海扫描狭缝光束质量分析仪设备

各种光束分析仪附件，包括采样器、光学镜组、平移台、UV和IR转换器等，能够进一步拓展仪器的应用范围。深圳光束偏漂移测试光束质量分析仪

DataRay 其他类似产品DataRay 提供多种光束质量分析仪和光斑分析仪，适用于不同的波长范围和应用场景。以下是部分产品及其特点：1. WinCamD-LCM 系列特点：高分辨率 CMOS 传感器，4.2 MPixel，2048×2048 像素。有效成像面积 11.3 mm×11.3 mm，像素尺寸 5.5 µm。支持连续光和脉冲光测量，带有 TTL 触发功能。高信噪比 2500:1，动态范围 44 dB。USB 3.0 接口，即插即用。应用：适用于 355 nm 至 1150 nm 波长范围的光束质量分析。广泛应用于科研、工业、医疗和通信领域。深圳光束偏漂移测试光束质量分析仪