甘肃光束质量分析仪测量系统

光束质量分析仪是一种用于精确测量和评估激光光束质量相关参数的仪器设备。它通过光学探头收集激光光束的信息，将光信号转换为电信号，由探测器进行探测，数据采集系统采集相关数据，再由分析软件依据特定的算法和标准对数据进行处理和分析，从而得出光束质量的各项参数。主要特点高精度测量：能够精确测量激光光束的多种特性参数，如束腰宽度、远场发散角、光束质量因子（M²）等。实时监测：可实时监测光束形状以及位置等变化，适用于连续和脉冲激光器。多种波长覆盖：波长响应范围广，如 DataRay 的 WinCamD-IR-BB 型号覆盖 2 – 16 µm，适用于中红外（MIR）和远红外（FIR）激光。高分辨率与高动态范围：如 DataRay 的 WinCamD-LCM 采用 4.2 MPixel CMOS 传感器，动态范围达 2500:1。软件功能强大：提供**全功能软件，支持 ISO 11146 标准，可测量 M²、D4σ、Knife-Edge 等参数。光束质量分析仪有高精度、多功能、快速响应和广泛应用等优势。甘肃光束质量分析仪测量系统

根据ISO标准11146，光束质量参数可由多个测量技术在传播光束的几个点上进行测量。这些技术都是基于使用CCD、刀口和狭缝等设备进行的光束轮廓测量。波前传感技术：某些光束质量分析仪采用波前传感技术，在CCD探测过程中，入射激光光斑会被分成两束激光，一快一慢分别先后到达两个CCD探测器阵面上，得到两个光束图像，从而分析光束的质量。通过上述原理，光束质量分析仪能够提供关于激光光束质量的详细信息，对于优化激光系统的性能和应用效果至关重要。天津中红外光束质量分析仪品牌用于激光器的研发、测试和优化，确保激光输出的稳定性和质量。

WinCamD-QD特点：适用于 400 nm 至 1700 nm 波长范围的光束质量分析。量子点探测器，15 µm 像素尺寸，**小可检测光束直径为 0.15 mm。应用：适用于通信波段（如 1550 nm）的激光检测。广泛应用于科研、工业和医疗领域。5. BladeCam-HR特点：高分辨率 CMOS 传感器，1.3 MPixel，1280×1024 像素。适用于小尺寸光束的高精度测量。应用：适用于紧凑的光学系统和 OEM 应用。用于激光器研发和光束质量优化。LLPS 线形激光光束轮廓仪特点：适用于长达 200 mm 的线激光测量。使用 DataRay 的旗舰 WinCamD-LCM4 光束轮廓分析相机进行扫描。应用：用于线激光强度分布的完整图像以及垂直质心图、线宽图的测量。DataRay 提供的这些产品涵盖了从紫外到远红外的***波长范围，适用于多种应用场景

WinCamD-LCM 实际应用案例1. 双包层光纤激光器光束分析某科研团队使用 WinCamD-LCM 光束质量分析仪对双包层高功率光纤激光器的光束传播截面进行分析。实验中，使用 976 nm 的泵浦激光二极管和 Nufern MM105/125 传输光纤，通过 WinCamD-LCM 测量光束的光斑大小和质量。结果显示，光束指向稳定性约为 2.7 μrad (RMS)，其中 X 方向约为 1.9 μrad，Y 方向约为 1.8 μrad，表现出良好的方向稳定性。Yb:YAG 固体激光器前端系统在一项关于 Yb:YAG 固体激光器前端系统的实验中，WinCamD-LCM 被用于测量激光系统的光束质量和稳定性。实验中，激光器的输出光束中心波长为 1030.1 nm，经过多级光学参量啁啾脉冲放大（OPCPA）和二次谐波生成（SHG），**终输出波长为 795 nm 的脉冲。WinCamD-LCM 用于记录光束的焦点中心位置，确保光束的稳定性和高质量。光束质量分析仪以其高精度、多功能、快速响应和广泛应用等优势，成为现代科技和工业生产中的重要工具。

通信领域光纤通信：评估光纤通信系统中的激光光源质量，确保通信信号的传输效率和质量。5. 新兴消费电子与汽车LiDAR 和 VCSEL 测试：用于 LiDAR（905 nm / 1550 nm）VCSEL 阵列远场分析，适用于自动驾驶和消费电子设备。AR/VR 设备测试：用于 AR/VR 结构光模组测试，确保设备的光学性能。6. 光束质量测量与监控光束漂移记录：监测光束的动态变化，记录漂移数据，用于长期稳定性分析。M² 测量：搭配 M2DU 载物台，可测量光束质量因子 M²，评估光束的传播特性。光束质量分析对光学成像系统的分辨率和对比度有重要影响，可用于镜头质检、光学系统调试等方面。上海高分辨率红外成像光束质量分析仪测量系统

Dataray光束质量分析仪通过高分辨率相机和专业的图像处理软件。甘肃光束质量分析仪测量系统

光束分析仪测量 M² 的方法光束质量因子 M² 是评估激光光束质量的重要参数，表示实际激光光束与理想高斯光束的接近程度。以下是光束分析仪测量 M² 的主要方法和步骤：1. 标准多次成像法根据国际标准化组织（ISO 11146）标准，多次成像法是测量 M² 的常用方法。具体步骤如下：光束采样：在光束传播路径上，使用光束分析仪在多个不同位置（通常至少10个）采集光束的横截面图像。这些位置应包括光束腰两侧的一个瑞利长度内（|z|<zR）和两个瑞利长度之外（|z|>2zR）。数据拟合：通过分析采集到的光束宽度数据，利用双曲线拟合方法计算 M² 值。2. 单次成像法单次成像法通过一次成像获取光束传播的关键参数，并基于光场传输理论推导出 M² 值。这种方法的**在于：近场光斑测量：使用光束分析仪采集单幅激光近场光斑。模式分解与光场重构：通过模式分解技术得到激光的各本征模式占比及相对相位，进而重构光场分布并计算得到 M² 值。甘肃光束质量分析仪测量系统