信号发生器信号发生器（包括函数发生器）为检修、调试电子设备和仪器时提供信号源。它是一种能够产生一定波形、频率和幅度的振荡器。例如：产生正弦波、方波、三角波、斜波和矩形脉冲波等。
晶体管特性图示仪晶体管特性图示仪是一种**示波器，它能直接观察各种晶体管特性曲线及曲性簇。例如：晶体管共射、共基和共集三种接法的输入、输出特性及反馈特性；二极管的正向、反向特性；稳压管的稳压或齐纳特性；它可以测量晶体管的击穿电压、饱和电流、β或α参数等。 无锡微原科技，助力电子测量仪器行业创新升级。无锡电子测量仪器发展现状
检验时用十字丝竖丝瞄准一清晰小点，使望远镜绕横轴上下转动，如果小点始终在竖丝上移动则条件满足．否则需要进行校正．校正时松开四个压环螺钉（装有十字丝环的目镜用压环和四个压环螺钉与望远镜筒相连接。转动目镜筒使小点始终在十字丝竖丝上移动，校好后将压环螺钉旋紧。 视准轴应垂直于横轴的检验和校正选择一水平位置的目标，盘左盘右观测之，取它们的读数（顾及常数180度）即得两倍的c（c=1/2（ɑ左－ɑ右） 横轴应垂直于竖轴的检验和校正选择较高墙壁近处安置仪器。以盘左位置瞄准墙壁高处一点p(仰角比较好大于30度)，放平望远镜在墙上定出一点m1。倒转望远镜，盘右再瞄准p点，又放平望远镜在墙上定出另一点m2。如果m1与m2重合，则条件满足，否则需要校正。校正时，瞄准m1、 m2 的中点m,固定照准部，向上转动望远镜，此时十字丝交点将不对准p点。抬高或降低横轴的一端，使十字丝的交点对准p点。此项检验也要反复进行，直到条件满足为止。以上四项检验校正，以一、三、四项**为重要，在观测期间比较好经常进行。每项检验完毕后必须旋紧有关的校正螺钉。大规模电子测量仪器技术电子测量仪器在研制和生产中需要综合应用很多前沿技术和基础技术。
简称测距仪。用电磁波(光波或微波)运载测距信号以测量点间距离的仪器。其测距基本原理为测定传输在待测点间的电磁波一次往返所需的时间t，并根据电磁波在大气中的传输速度c，求得距离D=1/2ct。按测定t的方式不同，分为脉冲式测距仪(直接测定t)，相位式测距仪和脉冲式测距仪(间接得到t)。脉冲式测距仪测程远，目前精度一般较低。相位式测距仪其测程较短而精度高。电磁波测距仪具有测程远，精度高，受地形影响小，轻便灵活，作业效率高等优点，因而得到了迅速发展，目前已逐步取代钢尺量距成为测距常规仪器。
微电子技术和计算机技术的迅速发展，给传统的测绘技术和测绘仪器带来了很大的冲击，使测绘仪器的发展产生了**性的变化，电子经纬仪也是其中之一。 在国外电子经纬仪的研究和试制大约要追溯到六十年代末和七十年代初，美国K&E公司试制了***台数字经纬仪，其后又有一些经纬仪生产厂家也试制出电子经纬仪样机。但是，由于当时技术条件等原因的限制，电子经纬仪的性能与传统的光学经纬仪相比并没有太多的改进，如无计算能力等。而且体积又比较庞大，耗电多，成本高，价格十分昂贵，超出光学经纬仪几倍甚至几十倍的价格。 但是，电子经纬仪的出现和推广正如其它电子产品一样，具有强大的生命力。无锡微原，在电子测量仪器行业独树一帜。
行业基本情况电子测量仪器简介电子检测的本质是对电参数的测量，是科学发展和生产现代化进程中不可或缺的环节。电子测量仪器主要用于器件、材料和设备的电学参数测量，以电量、非电量、光量的形式，测量被测对象的各项参数或控制系统的运行。
现代工业大生产中，用在测量上的工时和费用约占整个生产所用的20%～30%。电子测量仪器能够提高测量水平+降低测量成本+减少测量误差+提高测量效率，广泛应用于IT和通信、消费电子、汽车、**航空以及其他领域。电子测量仪器的产品种类繁多，按使用领域分可将其分为通用仪器和**仪器两大类：通用电子测量仪器是现代工业的基础，使用场景***，高低端跨度大，是电子工业发展和国家战略性、基础性重要产业之一，常见类型包括示作者：目标是半个小目标 _ugc_source=ugcbaiducard来源：雪球著作权归作者所有。商业转载请联系作者获得授权，非商业转载请注明出处。风险提示：本文所提到的观点***个人的意见，所涉及标的不作推荐，据此买卖，风险自负。 关注电子测量仪器发展，就看无锡微原。进口电子测量仪器智能系统
电子测量仪器的发展，离不开无锡微原的努力。无锡电子测量仪器发展现状
全站仪是人们在角度测量自动化的过程中应用而生的，各类电子经纬仪在各种测绘作业中起着巨大的作用。全站仪的发展经历了从组合式即光电测距仪与光学经纬仪组合，或光电测距仪与电子经纬仪组合，到整体式即将光电测距仪的光波发射接收系统的光轴和经纬仪的视准轴组合为同轴的整体式全站仪等几个阶段。**初速测仪的距离测量是通过光学方法来实现的，我们称这种速测仪为“光学速测仪”。实际上，“光学速测仪”就是指带有视距丝的经纬仪，被测点的平面位置由方向测量及光学视距来确定，而高程则是用三角测量方法来确定的。无锡电子测量仪器发展现状
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