重庆薄膜材料专谱光电测量系统

仪器特点模块化设计:不同波长的荧光模块、拉曼模块可以选择，不同的光谱仪和光源可以选择全光纤结构:不同模块之间的信号通过光纤传输，这对于后期的维护和升级非常有利;光谱测量范围宽:根据不同配置，光谱范围可以盖250-2500nm;空间分辨率高:在100X物镜下，光谱采集区域可以小到2um;二维扫描:可以配二维扫描台，实现Mapping测量功能;软件功能强大:软件集成了光谱仪、二维扫描台、CCD相机和光源，可以做二维扫描光谱测量;软件可以做反射、荧光、拉曼、相对辐射、***辐射等光谱测量;操作软件能实现2台不同波段光谱仪的拼接测量;可以做光谱时序图测量;可以做时间-波长-强度(反射率透过率、辐射强度、拉曼强度、荧光强度等)测量;激光诱导电流LBC测量;光致量子效率和电致量子效率测量;软件可以在CCD上直接选取扫描区域，可以方便的在视场中选取某个感兴趣的点，该点在软件控制下，自动移动到光斑照射位置，并进行光谱测量。调试方便:整个系统的光路，客户可以自行调节(通过外部调节)，使仪器在任何时候都处于比较好状态。专谱LIBS（激光诱导击穿光谱）系统是一种先进的光谱分析技术，广泛应用于材料成分分析和元素检测。重庆薄膜材料专谱光电测量系统

专谱钨灯光源在科研实验中的应用专谱钨灯光源是一款高性能的光纤耦合输出卤钨灯，具有***的科研实验应用。以下是其主要特点和适用的科研实验领域：产品特点波长范围广：专谱钨灯光源的波长范围覆盖 360-2500 nm，适用于从紫外到近红外的多种光谱分析需求。高亮度与低功耗：优化的光学设计实现了低功耗高亮度输出，确保在高效能转换的同时保持低能耗。长寿命：灯泡寿命长达 10000 小时，减少了更换频率和维护成本。模块化设计：采用模块化设计，便于集成到各种实验系统中，且灯泡可更换。稳定的光谱输出：优化的稳压电路设计确保了稳定的光谱输出，适用于需要高精度光谱测量的场景。重庆薄膜材料专谱光电测量系统共聚焦激光扫描显微系统：如 ProSp-Con50i，用于高分辨率成像。

参数指标表格复制参数/型号ProSp-RTM-UVProSp-RTM-VIS光谱范围250-2500 nm250-2500 nm光源选配，SMA905 光纤接口内置钨灯光源（360-2500 nm），可外接其他光源光斑大小可调，**小 1.5 mm可调，**小 1.5 mm入射光发散角<1.5°<1.5°入射角范围0-270°0-350°接收角范围0-360°0-360°角度分辨率0.1°0.1°样品台三维调节三维调节滤波片架包含 2 个滤波片架，可放置直径 12.7 mm 的滤波片、波片和偏振片包含 2 个滤波片架，可放置直径 12.7 mm 的滤波片、波片和偏振片旋转偏振片架选配选配ProSp 角分辨测试系统凭借其高角度分辨率、全光谱测量能力和多种测量模式，成为材料科学和光学研究中的理想选择。其在微纳光学、材料学和生物技术等领域的广泛应用，展示了其强大的性能和灵活性。

专谱钨灯光源在紫外光谱分析中的表现主要体现在以下几个方面：1. 波长范围专谱钨灯光源的波长范围覆盖 360-2500 nm，能够满足从紫外到近红外的多种光谱分析需求。然而，需要注意的是，钨灯光源在紫外区域的辐射强度相对较弱，特别是在近紫外区域（320-400 nm），其能量占比约为1%，这可能限制了其在紫外光谱分析中的应用范围。稳定性专谱钨灯光源具有良好的稳定性，其光强度与温度成正比，且在优化的稳压电路设计下，能够提供稳定的光谱输出。这种稳定性对于需要高精度光谱测量的科研实验至关重要。材料研究领域：通过分析材料微观区域的光谱，研究其特性。

杭州专谱光电技术有限公司（Hangzhou SPL Photonics Co., Ltd.）是一家专注于光谱仪器、激光器系统及配件、生物光学和量子光学等领域的企业。公司提供多种高性能的光电产品和解决方案，广泛应用于科研、工业和环境监测等领域。1. 光谱仪器专谱光电提供多种光谱仪器，包括：显微光谱测量系统：如 ProSp-Micro 系列，集成了反射、荧光和拉曼光谱测量功能，适用于多种科研应用。角分辨光谱测量系统：用于测量材料的反射率、透射率和散射特性。LIBS 光谱测量系统：用于快速检测材料的成分。膜厚光谱测量系统：用于测量薄膜的厚度和折射率。2. 激光器系统专谱光电代理多种高性能激光器，包括：半导体激光器：用于多种科研和工业应用。超紧凑纳秒激光器：适用于高重复频率的实验。超快激光器：用于需要高时间分辨率的实验。窄线宽激光器：适用于需要高光谱分辨率的应用角分辨光谱测量系统：用于测量材料的反射率、透射率和散射特性。辽宁二维材料专谱光电厂商

ProSp显微系统以其多功能性、高分辨率和灵活的配置，广泛应用于材料科学、生物医学、化学分析等多个领域。重庆薄膜材料专谱光电测量系统

ProSp 角分辨测试系统（ProSp-RTM-UV/VIS）是一款高性能的全角度光谱测量系统，广泛应用于材料科学、微纳光学、生物技术和矿物分析等领域。以下是其主要功能和应用：功能描述全角度测量：接收端角度范围：0-360°发射端角度范围：0-270°高角度分辨率：角度分辨率可达 0.01°全光谱测量：光谱范围：250-2500 nm多种测量模式：上反射、下反射、透射、散射、辐射等多种测量模式自动测量模式：通过软件设置测量模式、接收角范围、入射角范围、角度分辨率、循环次数、积分时间等参数，实现不同模式的自动测量手动测量模式：可以任意控制样品台的入射角和接收角进行光谱测量重庆薄膜材料专谱光电测量系统