甘肃微纳米结构材料专谱光电测量系统

专谱量子效率测试系统是一种用于测量光电器件和材料量子效率的高性能设备。它广泛应用于太阳能电池、光电探测器、LED、光电器件的研发和质量控制。以下是其主要特点和功能：测量方法：外量子效率（EQE）：衡量光电器件从外部光源接收光子并转换为电子的效率，包括光吸收、电子迁移、表面反射等多个因素。内量子效率（IQE）：*考虑光电器件内部的光电转换效率，排除了因光的反射或透射而造成的损失。光谱范围：250-2500 nm。高灵敏度探测器：采用高灵敏度的光电二极管或光电倍增管。自动化控制：集成自动化控制功能，能够进行大规模、高通量的测试。多种测量功能：支持量子效率、光谱响应、IV特性等多种测量。专谱钨灯光源采用风扇型散热设计，输出稳定，更高效的冷却灯泡，确保了光源在长时间工作下的稳定性。甘肃微纳米结构材料专谱光电测量系统

专谱钨灯光源在紫外光谱分析中的表现主要体现在以下几个方面：1. 波长范围专谱钨灯光源的波长范围覆盖 360-2500 nm，能够满足从紫外到近红外的多种光谱分析需求。然而，需要注意的是，钨灯光源在紫外区域的辐射强度相对较弱，特别是在近紫外区域（320-400 nm），其能量占比约为1%，这可能限制了其在紫外光谱分析中的应用范围。稳定性专谱钨灯光源具有良好的稳定性，其光强度与温度成正比，且在优化的稳压电路设计下，能够提供稳定的光谱输出。这种稳定性对于需要高精度光谱测量的科研实验至关重要。浙江360-2500 nm钨灯专谱光电设备谱钨灯光源能够提供从紫外到近红外的连续光谱，光纤传感器可以利用这些光谱信息进行信号检测和分析。

ProSp-Micro40系列显微光谱测量系统，把透反射、荧光和拉曼光谱测量功能集成到一套显微平台上，实现显微透反射、显微荧光和显微拉曼光谱的测量。整套系统由显微镜、显微模块、光谱仪和光源等构成。系统可以选装二维电控扫描台，实现Mapping测量功能。产品功能显微荧光光谱测量显微拉曼光谱测量显微透反射光谱测量Mapping光谱测量正常显微镜功能多功能、模块化的显微光谱系统透反射光谱、荧光光谱和拉曼光谱ProSp-Micro40系列显微光谱测量系统

ProSp 标压系统：功能与应用ProSp 标压系统（如 SPL-Micro2000）是一种高性能的显微光谱测量系统，广泛应用于材料科学、生物医学和环境监测等领域。以下是其主要功能和应用：1. 系统特点多功能集成：ProSp 标压系统集成了荧光、拉曼和反射光谱测量功能，能够实现多种光谱测量。模块化设计：系统采用模块化设计，用户可以根据需要选择不同的光谱仪、激光器和显微镜。立式结构：利用成熟的商业显微镜，增加光谱测量模块，可以通过拨杆切换实现荧光标压和拉曼标压。操作便捷：系统操作简单，用户可以通过软件控制光谱数据采集和 CCD 数据采集。通过软件设置，如测量模式、接收角范围、积分时间等，实现不同模式的自动测量，无需人为干预。

激光器与光通信：性能评估：评估激光发射器件的效率和稳定性，尤其是在高功率和高频率的条件下。信号传输：提高光源的性能，确保数据的高速、稳定传输。环境监测与食品安全：光降解效率：测量水体中污染物的光降解效率。光稳定性：检测食品中添加剂的光稳定性。3. 系统组成专谱量子效率测试系统通常由以下部分组成：光源：可调波长的激光或光谱光源，用于照射测试样品。样品台：用于放置和固定测试样品。探测器：高灵敏度的光电二极管或光电倍增管，用于捕捉样品反应后的信号。数据分析系统：用于处理和分析测量数据，计算量子效率等参数。4. 产品优势体积小巧：便于灵活使用及运输。原位测量：可放置在手套箱内，实现原位测量。操作简单：设备无需频繁校准。结果准确：使用NIST溯源的辐射校准。测试高效：自动测量和远程控制，一次多样品测试。结果清晰：**软件内嵌计算算法，直接得到测试结果。测试范围广：兼容较宽亮度范围器件，从0.01 nit到2×10⁶nit。软件分为成像软件与光谱测量软件两部分。湖北全角度荧光光谱测量专谱光电供应商

系统支持上反射、下反射、透射、散射、辐射等多种测量模式。甘肃微纳米结构材料专谱光电测量系统

对于传统积分球式的光致发光及电致发光量子效率测试系统，我们使用积分球收集电致发光器件的发射光，光谱仪分析其强度，根据不同波长计算其光子数，根据发射光子数与经过器件的电流载流子数的比值，我们可以计算出样品的电致发光量子效率 EQE 。因此，针对于不同发光强度及样品区域的需求， 我们开发了这套 ProSp-ELQY 电致发光量子效率测试系统。ProSp-ELQY电致发光量子效率测试系统可变光强量子效率测试系统以模块化思路设计，适合手套箱内使用，应对无论是OLED，QLED，PeLED发光器件，可在器件制备的全流程中进行器件测试，测试系统经过可溯源的光源进行定标，能够进行准确的***量子产率，色度，和光谱测量。甘肃微纳米结构材料专谱光电测量系统