点光源与光纤导光：精细聚焦与微距应用在机器视觉中，当需要极高亮度、极小光斑或深入狭窄空间进行照明时，点光源结合光纤导光技术成为关键解决方案。点光源指能产生高度汇聚光束的单元，而光纤则负责将光线从发生器高效、灵活地传导至远端微小区域。其重点优势在于：极高的光强密度，可将强大光能汇聚于微小目标点；出色的灵活性与可达性，光纤细小柔韧，可轻易伸入设备内部、深孔、缝隙或复杂结构周围进行照明，不受空间限制；有效的热隔离，光源发生器可远离检测点，避免热量影响敏感被测物或光学元件；光斑形状可控，通过在光纤输出端加装微型透镜或光阑，可精确控制光斑的大小、形状和照射角度。点光源光纤照明在微电子（芯片、引线键合、焊点检测）、精密机械（微型齿轮、钟表零件）、生物医学以及需要局部高亮照明的场景（如微小划痕、特定标记点检查）中不可或缺。选择时需平衡光强需求、光斑尺寸、光纤长度和光源的稳定性。环形光源为定位检测提供均匀照明。金华高亮条形光源光栅线型同轴
光源色（波长）选择策略光源的颜色（即发射光谱的中心波长）是机器视觉照明设计中至关重要的策略性选择，直接影响目标特征与背景的对比度。选择依据的重点是被测物颜色及其光学特性：互补色原理：照射的颜色与物体颜色互为补色时，物体吸收多光而显得暗，背景（若反射该光）则亮，从而大化对比度。例如，用红光照射绿色物体，绿色物体会吸收红光（显得暗），而白色背景反射红光（显得亮）；反之，用绿光照射红色物体亦然。同色增强：有时用与物体颜色相近的光照射，能增强该颜色的饱和度（如蓝光照射蓝色标签）。特定波长响应：某些材料对特定波长有独特吸收/反射/荧光特性（如红外穿透塑料、紫外激发荧光）。滤镜协同：结合相机前的带通滤镜，只允许特定波长的光进入相机，可有效抑制环境光干扰并增强目标光信号。常用单色光源波长包括：红光（630-660nm）：通用性好，穿透雾霾略强，对金属划痕敏感；绿光（520-530nm）：人眼敏感，相机量子效率高，常用于高分辨率检测；蓝光：对细微纹理、划痕敏感（短波长衍射效应弱），常用于精密检测；白光：提供全光谱信息，适用于颜色检测、多特征综合判断。选择时需考虑相机传感器的光谱响应曲线，确保所选波长能被相机有效捕捉。淮安光源紫外卤素灯提供全光谱连续光。
点光源与光纤导光：精细聚焦与微距应用在机器视觉中，当需要极高亮度、极小光斑或深入狭窄空间进行照明时，点光源（SpotLight）结合光纤导光技术成为关键解决方案。点光源通常指能产生高度汇聚光束的光源单元，而光纤（如玻璃光纤束或液体光导管）则负责将光线从光源发生器高效、灵活地传导至远端需要照明的微小区域。这种组合的优势在于：极高的光强密度：可将强大光能汇聚于微小目标点；灵活性与可达性：光纤非常细小柔韧，可轻易伸入设备内部、深孔、缝隙或复杂结构周围进行照明，不受空间限制；热隔离：光源发生器（常为高功率卤素灯或LED）可放置在远离检测点的地方，避免热量影响敏感的被测物或光学元件；光斑形状可控：通过在光纤输出端加装微型透镜或光阑，可精确控制光斑的大小（从毫米级到亚毫米级）、形状（圆点、线、方框）和照射角度。点光源光纤照明在微电子（芯片、引线键合、焊点检测）、精密机械（钟表零件、微型齿轮）、生物医学（内窥镜辅助）、科研显微以及需要局部高亮照明的场景（如微小划痕、特定标记点检查）中不可或缺。选择时需平衡光强需求、光斑尺寸、光纤长度（光损）和光源的稳定性。
背光照明：轮廓与尺寸测量的黄金标准背光照明（Backlighting）是机器视觉中用于获取物体清晰、高对比度轮廓图像的经典方法。其原理是将高亮度、高均匀性的光源（通常是面光源或大面积漫射板）置于被测物体后方，相机从物体前方拍摄。此时，不透明的物体会在明亮的背景上呈现为剪影（Silhouette）。这种照明方式的重要价值在于它能比较大化物体边缘与其背景的对比度，几乎完全消除了物体表面纹理、颜色或反光特性的干扰。因此，背光成为高精度尺寸测量（如孔位、直径、间距）、轮廓检测、形状验证以及透明物体（如玻璃瓶、薄膜）内部杂质或气泡检测的理想选择。背光光源通常要求极高的均匀性（>90%），以避免轮廓边缘亮度梯度影响测量精度。常见的背光类型包括LED面板背光（集成漫射层，均匀性好）和远心背光（结合远心镜头，消除通透误差，实现真正平行的轮廓投影）。应用时需精确控制光源尺寸（需大于被测物并覆盖视场）、亮度以及物体与光源的距离，确保轮廓清晰锐利且无光晕效应。对于非平面物体或需要内部特征信息的场景，背光则不适用。背光源勾勒高对比度产品轮廓。
偏振光在机器视觉中的应用：消除反光与增强对比度偏振光技术是解决物体表面镜面反射（眩光）和增强特定特征对比度的有效光学手段。其基本原理是利用偏振片（Polarizer）控制光波的振动方向。在机器视觉照明中，典型的应用模式有两种：1.光源+偏振片，相机镜头前加偏振片：光源发出的非偏振光经过起偏器（Polarizer）变为线偏振光照射物体。物体表面反射光包含镜面反射（通常保持原偏振方向）和漫反射（偏振方向随机）。相机镜头前的检偏器（Analyzer）若旋转至与起偏器方向垂直（正交），则可有效阻挡镜面反射光（变暗或消失），同时允许部分漫反射光通过。这能抑制眩光，使被眩光覆盖的表面纹理、划痕、印刷图案等得以显现。2.只相机镜头前加偏振片：当环境光或光源（如穹顶光）包含偏振成分时（如来自金属表面反射），旋转检偏器也能帮助过滤掉特定方向的偏振干扰光，增强图像对比度。偏振照明特别适用于检测光滑表面（金属、玻璃、塑料、漆面）的划痕、凹陷、异物、油污、薄膜厚度（利用双折射效应）等。配置时需仔细调整光源偏振片与相机偏振片的相对角度（通常正交效果比较好），并考虑光线入射角的影响。虽然增加成本并损失部分光强，但在解决棘手反光问题时效果突出。前向光突显表面印刷字符。绍兴环形光源灯箱
光源选择直接影响成像质量。金华高亮条形光源光栅线型同轴
光源在半导体与电子制造业的关键应用半导体和电子制造业（SMT,PCB组装，芯片封装）是机器视觉应用只密集、要求只严苛的领域之一，光源在其中解决诸多关键检测难题：焊点检测（AOI-AutomatedOpticalInspection）：需要多角度照明（如环形光不同角度、穹顶光）揭示焊锡的光泽、形状、润湿角、桥接、虚焊等特征。特定波长（如蓝光）对微小缺陷敏感。元件存在/缺失、极性、错件：通用环形光、同轴光提供清晰整体图像。引线键合（WireBonding）：高倍显微下，点光源/光纤照明精细照亮微小焊点与金线，查断线、弧度、位置偏移。晶圆（Wafer）检测：表面缺陷（划痕、颗粒、沾污）：高均匀性明场（同轴光、穹顶光）或暗场照明（低角度光突显微小凸起）；图案（Pattern）对准/缺陷：高分辨率同轴光或特定波长照明；薄膜厚度测量：利用干涉或光谱反射，需要特定波长光源。PCB缺陷（断路、短路、蚀刻不良）：高分辨率背光查线路通断、线宽；表面照明查阻焊、字符、污染。BGA/CSP球栅阵列：X光更常用，但光学上可用特殊角度照明观察边缘球。小型化趋势：推动微型、高亮度、高均匀性光源（如微型环形光、同轴光）发展。光源的稳定性、均匀性、波长精确性和可控性对微电子检测至关重要。金华高亮条形光源光栅线型同轴
