一、9j光切法显微镜的用途9j光切法显微镜以光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状；在不破坏表面的条件下，测出截面轮廓的微观平面度和沟槽宽度的实际尺寸；此外，还可测量表面上个别位置的加工痕迹和破损。本仪器适用于测量，但只能对外表面进行测定；如需对内表面进行测定，而又不破坏被测零件时，则可用一块胶体把被测面模印下来，然后测量模印下来的胶体的表面。二、9j光切法显微镜的规格仪器的示值相对误差（分段计）5%-24%摄像装置放大倍数≈6×测量平面度范围≈（）um平面宽度用测微目镜≈（）mm用坐标工作台≈（）mm仪器质量≈23kg仪器外形尺寸（l×b×h）mm180×290×470其余见表1表1测量范围（平面度平均高度值）/um表面粗糙度级别所需物镜总放大倍数物镜组件与工件的距离/mm视场/mm960×∞*510x8-730×∞*260x6-514×∞*120x20-804-37×∞*60x*物镜的光学筒长三、9j光切法显微镜的工作原理仪器是采用光切法测量被测表面的微观平面幅度，其工作原理，狭缝被光源发出的光线照射后，通过物镜发出一束光带以倾斜45°方向照射在被测量的表面。具有齿状的不平表面，被光亮的具有平直边缘的狭缝像的亮带照射后，表面的波峰在s点产生反射。 (2) 附有相位环(环形缝板)的聚光镜，相位差聚光镜。 (3) 单色滤光镜-(绿)。湖州官方显微镜厂家
▽超细颗粒制备方法示意图来源：公开资料▽材料薄膜制备过程示意图来源：公开资料5图像类别（1）明暗场衬度图像明场成像（Brightfieldimage）:在物镜的背焦面上，让透射束通过物镜光阑而把衍射束挡掉得到图像衬度的方法。暗场成像（Darkfieldimage）:将入射束方向倾斜2θ角度，使衍射束通过物镜光阑而把透射束挡掉得到图像衬度的方法。▽明暗场光路示意图▽硅内部位错明暗场图来源：《CharacterizationTechniquesofNanomaterials》[书]（2）.辨TEM（HRTEM）图像HRTEM可以获得晶格条纹像（反映晶面间距信息）；结构像及单个原子像（反映晶体结构中原子或原子团配置情况）等分辨率更高的图像信息。但是要求样品厚度小于1纳米。▽HRTEM光路示意图▽硅纳米线的HRTEM图像来源：《CharacterizationTechniquesofNanomaterials》[书]（3）电子衍射图像l选区衍射（Selectedareadiffraction,SAD）:微米级微小区域结构特征。l会聚束衍射（Convergentbeamelectrondiffraction,CBED）:纳米级微小区域结构特征。l微束衍射（Microbeamelectrondiffraction,MED）:纳米级微小区域结构特征。杭州直销显微镜厂家结构为：目镜，镜筒，转换器，物镜，载物台，通光孔，遮光器。
接下来做镜筒，材料非常好找，就是平时我们用的卷筒纸中间那个硬纸筒，硬纸筒用作中间那节镜筒(废物利用，一举两得)，下面那节物镜筒用厚纸卷几圈，尽量卷厚实一些，上面的目镜筒也是如此制作。制作完后记得一定要涂黑。为了美观，在外面可以贴上黑色的（当然，其它颜色也是可以的，比如木纹墙纸也很好看的）胶墙纸，贴之前先在硬纸筒外面用光洁平整的卡纸粘一圈，再贴墙纸，这样比较平整美观。接下来我们制作目镜，镜片用三块修钟表的5倍放大镜（8倍的更好，我这里只能买到5倍的），把镜片从套筒里面取出，按照前面一块，后面两块（靠近眼睛处）这样来组合，具体参数看图，这样就做成一个复合目镜，放大倍率大概在8倍左右。.把做好的物镜、镜筒、目镜总装，显微镜的主要部分完成了。此时用来观看是可以的了，问题是在大倍数下不可能拿得很稳，手上的一点点轻微抖动都会对观察对象造成很大的移动。这样是无法观察的，一个结实的底座在这个时候就显得非常重要。如图，显微镜的载物台，用一张废旧光盘来做，两面用截剪好的黑色音箱纸贴上，这样子美观不少。下面的支撑架用包装纸箱上的瓦楞纸来做，用胶水粘好后，同样用黑色音箱纸贴上，把原来的颜色遮住。如果想做得更结实。
l聚光镜：将电子束聚集得到平行光源。l样品杆：装载需观察的样品。l物镜：聚焦成像，一次放大。l中间镜：二次放大，并控制成像模式（图像模式或者电子衍射模式）。l投影镜：三次放大。l荧光屏：将电子信号转化为可见光，供操作者观察。D相机：电荷耦合元件，将光学影像转化为数字信号。▽透射电镜基本构造示意图来源：中科院科普文章3原理透射电镜和光学显微镜的各透镜及光路图基本一致，都是光源经过聚光镜会聚之后照到样品，光束透过样品后进入物镜，由物镜会聚成像，之后物镜所成的一次放大像在光镜中再由物镜二次放大后进入观察者的眼睛，而在电镜中则是由中间镜和投影镜再进行两次接力放大后**终在荧光屏上形成投影供观察者观察。电镜物镜成像光路图也和光学凸透镜放大光路图一致。▽电镜和光镜光路图及电镜物镜成像原理来源：中科院科普文章4样品制备由于透射电子显微镜收集透射过样品的电子束的信息，因而样品必须要足够薄，使电子束透过。l试样分类：复型样品，超显微颗粒样品，材料薄膜样品等。l制样设备：真空镀膜仪，超声清洗仪，切片机，磨片机，电解双喷仪，离子薄化仪，超薄切片机等。显微镜是人类**伟大的发明物之一人类关于周围世界的观念局限在用肉眼或者靠手持透镜帮助肉眼所看到的东西。
如果设定岛的大小为针尖与之真实接触面积A，已知移动岛的横向力为FL，则能够确定出膜的剪切强度τ=FL/A。3.化学力显微镜虽然LFM对所研究体系的化学性质只能提供有限的信息，但作为LFM新应用而发展起来的化学力显微镜（CFM）技术，却具有很高的化学灵敏性。通过共价结合修饰有机单层分子后的力显微镜探针尖，其顶端具有完好控制的官能团，能够直接探测分子间相互作用并利用其化学灵敏性来成像。这种新的CFM技术已经对有机和水合溶剂中的不同化学基团间的粘附和摩擦力进行了探测，为模拟粘附力并且预测相互作用分子基团数目提供了基础。一般来讲，测量得到的粘附力和摩擦力大小与分子相互作用强弱的变化趋势是一致的。充分理解这些相互作用力，能够为合理解释不同官能团以及质子化、离子化等过程的成像结果提供基础。Frisbie等利用一般的SFM，改变针尖的化学修饰物质，对同一扫描区间进行扫描得到反转的表面横向力图像。这一研究开拓了侧向力测量的新领域，可以研究聚合物和其他材料的官能团微结构以及生物体系中的结合、识别等相互作用。4.检测材料不同组分的特殊SFM技术随着SFM技术及其应用的不断发展，在SFM形貌成像基础上发展起来多种新的特殊SFM技术。**早的显微镜是16世纪末期在荷兰制造出来的。徐州正规显微镜高质量的选择
而从四周射向标本的显微镜.荧光显微镜以紫外线为光源，使被照射的物体发出荧光的显微镜。湖州官方显微镜厂家
透射电子显微镜TEM透射电子显微镜（TransmissionElectronMicroscope,简称TEM），是一种把经加速和聚集的电子束透射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度等相关，因此可以形成明暗不同的影像，影像在放大、聚焦后在成像器件（如荧光屏，胶片以及感光耦合组件）上显示出来的显微镜。1背景知识在光学显微镜下无法看清小于，这些结构称为亚显微结构或超细结构。要想看清这些结构，就必须选择波长更短的光源，以提高显微镜的分辨率。1932年Ruska发明了以电子束为光源的透射电子显微镜，电子束的波长比可见光和紫外光短得多，并且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比，也就是说电压越高波长越短。目前TEM分辨力可达。▽电子束与样品之间的相互作用图来源：《CharacterizationTechniquesofNanomaterials》[书]透射的电子束包含有电子强度、相位以及周期性的信息，这些信息将被用于成像。2TEM系统组件TEM系统由以下几部分组成：l电子.：发射电子。由阴极，栅极和阳极组成。阴极管发射的电子通过栅极上的小孔形成射线束，经阳极电压加速后射向聚光镜，起到对电子束加速和加压的作用。湖州官方显微镜厂家
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