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科研用扫描电镜SEM测试服务基本参数
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科研用扫描电镜SEM测试服务企业商机

仪器名称扫描电镜(SEM)型号:Zeiss Ultra 55主要技术参数:1、分辨率1.0 nm at 15 kV;1.7 nm at 1 kV;4.0 nm at 0.1 kV  2、加速电压0.1-30kV  3、放大倍数12-900000  4、探测电流4pA-20nA   5、电子qiang:热场发射应用范围:用于观察样品的表面形态、断口形貌、磨损表面形貌、纳米结构材料形态、生物样品形貌等;结构分析、成分分析。用于材料学、机械学、微电子学、生物学、医学等领域。材料要求:金属、薄膜、半导体、陶瓷、复合、高分子、生物材料等均可,具有一定的导电性,或喷碳/金处理,官方科研用扫描电镜SEM测试服务 厂家供应

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