自动化信号完整性测试执行标准

我们现在看一个具体示例:图3中，两款示波器都已设置为800mV全屏显示。8位ADC示波器的分辨率是3.125mV，即，800mV除以28(256个量化电平)。10位ADC示波器的分辨率是0.781mV，即，800mV除以210(1024个量化电平)。计算出来的分辨率又被称作小量化电平，在正常采集模式下，是示波器能识别的信号小变化范围。示波器通常支持高分辨率采集模式，在该模式下，要得到正确的信号，示波器的模拟前端要能够防混叠，且采样率远大于实际需要的采样率。也有的厂家采用过采样技术配合DSP滤波器来提高示波器的垂直分辨率，然后给出一个指标，说高分辨率模式下，其位数是多少。以InfiniiumS系列示波器为例，其ADC固有分辨率是10位，高分辨率模式下是12位。高分辨率模式要求ADC实际支持的采样率远高于被测信号测量所需的硬件带宽。提升分辨率，可以选择更高位数的ADC，同时示波器的垂直刻度选择范围要更宽。克劳德实验室提供信号完整性测试软件解决方案；自动化信号完整性测试执行标准

ADC位数和小分辨率模数转换器(ADC)是确保示波器自身信号完整性的关键技术。ADC位数与示波器的分辨率成正比。理论上讲，10位ADC示波器的分辨率比8位ADC示波器高4倍。同理，12位ADC示波器相对于10位ADC示波器也是如此。图2以10位ADCInfiniiumS系列示波器为例，实际验证了上述结论。

多数示波器都是采用8位ADC,而S系列示波器采用的是40GSa/s10位ADC,分辨率提升了四倍。分辨率是指由示波器中的模数转换器(ADC)所决定的小量化电平。8位ADC可将模拟输入信号编码为28=256个电平，即量化电平或Q电平。ADC在示波器量程内工作，因此在电流和电压测量中，量化电平的步长与示波器的量程设置有关。如果垂直设置为100mV/格，则量程等于800mV(8格x100mV/格)，量级电平分辨率就是3.125mV(即，800mV除以256个量化电平）。 测量信号完整性测试推荐货源常见的信号完整性测试问题；

信号校准服务默认情况下，当矢量网络分析仪（VNA）开启时，其参考平面位于前面板。将电缆连接到被测设备时，校准参考必须使用短路-开路-负载-直通法（SOLT）、直通反射线或直通反射匹配参考结构。SOLT是常见的方法。电缆可以直接连接到DUT或夹具。夹具安装在电缆和DUT之间，有助于兼容不同类型的连接器，例如HDMI、显示端口、串行ATA和PCIExpress。在本示例中，校准参考面包括电缆，而去嵌入参考面包括夹具。将校准误差校正和去嵌入相结合时，必须包括通道中与DUT的所有互连。连接DUT后，您就可以进行测量，并执行测量后（去嵌入）误差校正。

9英寸长迹线的ADS模型，模仿了与相邻被动线的耦合，模型带宽为~8GHz。所示为ADS中使用MIL结构的两条耦合传输线的简单模型。所有物理和材料属性均进行了参数配置，以便在以后进行更改。我们假设两条均匀等宽线的简单模型，有间距、长度、电介质的厚度、介电常数和耗散因素。我们使用千分尺从结构上测得的各种几何条件，并使用从均匀传输线测得的相同的介电常数和耗散因素。ADS中的集成2D场解算器会自动用这些几何值计算传输线的复合阻抗和传输特性，并模拟频域插入损耗和回波损耗性能，与实际测量中的配置完全一样。我们将TDR中测得的插入损耗数据以Touchstone格式带入ADS，然后将测得的响应与模拟响应进行比较。图34所示为插入损失的幅度（单位为分贝）和插入损失的相位。红色圆圈是测得的数据，与TDR仪器屏幕的显示相同。蓝线是基于这个简单模型的模拟响应，没有参数拟合。克劳德信号完整性测试设备；

数据中心利用发射系统和接收系统之间的通道，可以准确有效地传递有价值的信息。如果通道性能不佳，就可能会导致信号完整性问题，并且影响所传数据的正确解读。因此，在开发通道设备和互连产品时，确保高度的信号完整性非常关键。测试、识别和解决导致设备信号完整性问题的根源，就成了工程师面临的巨大挑战。本文介绍了一些仿真和测量建议，旨在帮助您设计出具有优异信号完整性的设备。

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随着频率提升，能量会耦合回到排前条线，这个过程会重复。这是模式和紧密耦合系统的基本属性。它终关系到这样一个事实，即在一对线上传播的奇模和偶模这两种模式，在微带中具有不同的速度。如果这是合理的解释，并且这两条耦合线位于偶模和奇模行进速度相同的带状线内，那么就不会出现波谷。图35中还显示了单一带状线传输线的模拟插入损耗，这条传输线具有相同的线宽，与一条端接迹线相邻，间距为115密耳。在6GHz上没有波谷，插入损耗随频率平稳下降，这都是由于叠层的介电损耗导致的。这说明了一个重要的设计原则：如需在单端传输线上获得对比较高的带宽，那么就要避免间隔紧密的相邻线，无论这条线是如何端接的。自动化信号完整性测试执行标准