成都高光谱成像仪

Co-Aligned HP 配套的 SpectralView 后处理软件功能全、操作便捷，专门针对全波段高光谱数据的处理需求设计。该软件支持批量辐射校正、反射率校正和几何校正，能够一次性处理大规模采集的数据，大幅提升处理效率，避免了逐景影像处理的繁琐操作。对于需要快速输出结果的应急监测场景，如地质灾害应急调查、突发污染事件监测，批量处理功能能够节省大量时间，为决策制定争取宝贵时间。此外，软件还支持导入第三方 DSM（数字表面模型）进行几何校正与图像镶嵌，利用 DSM 的高程信息优化影像的空间定位精度，让拼接后的影像更贴合实际地形。无论是科研用户的精细化数据处理，还是行业用户的快速成果输出，SpectralView 软件都能提供高效、专业的技术支持，降低数据处理门槛，提升全流程作业效率。Nano HP 的数据融合功能可整合高光谱与 EDM 数据，丰富分析维度。成都高光谱成像仪

Co-Aligned HP 的双探测器设计并非简单的波段叠加，而是针对不同波段的特性进行专项优化，实现数据的高效协同。VNIR 探测器（400-1000nm）针对植被、水体等常规监测目标优化，采用低功耗 CMOS 传感器，确保在可见 - 近红外波段获得高灵敏度、高空间分辨率的光谱数据；SWIR 探测器（900-2500nm）针对矿物、水分等特殊目标优化，采用 Stirling 制冷 MCT 传感器，保障在短波红外波段的探测精度与稳定性。两套探测器同步采集、数据协同，既确保了常规波段的高质量数据，又拓展了短波红外波段的特殊应用。在综合监测场景中，如植被 - 土壤 - 矿物复合区域调查，双探测器的协同数据能够覆盖不同目标物的光谱特征，为多目标综合分析提供完整的数据支撑，展现出全波段设备的独特优势。北京Micro-Hyperspec 系列高光谱成像仪多少钱Co-Aligned HP 配备 3*3m 三梯度反射率定标毯，通过相关软件实现批量数据校正。

Co-Aligned HP 采用高度一体化的 Turnkey 解决方案，整体重量 4.0kg，内部集成高光谱成像仪、高精度 GNSS/IMU 模块、嵌入式采集控制模块及 SSD 存储设备，无需用户进行复杂的硬件集成调试。系统配备的三轴稳定云台拆装便捷，支持通电自动调平，可灵活搭载于中小型旋翼无人机、固定翼无人机及无人直升飞机，适配不同作业场景的需求。在数据采集过程中，高光谱数据与姿态信息可同步存储于 SSD 中，确保数据的完整性与时间一致性。用户只需专注于飞行计划制定与后期数据处理，无需投入精力在设备兼容与调试上，大幅降低了操作门槛。此外，系统支持上传 KML 文件并基于地理位置触发采集，进一步提升了作业的精确性与便捷性，尤其适合大规模、高精度的野外作业任务。

Co-Aligned HP 配备专业的辐射校正与数据处理体系，其中 3*3m 大尺寸反射率定标毯包含三种梯度反射率，为辐射校正提供了精确的参考标准。系统搭载的 SpectralView 后处理软件功能强大，支持批量辐射校正、反射率校正和几何校正，处理效率高且效果稳定，能够有效消除环境因素对数据的影响，提升数据的可靠性与可比性。此外，软件还支持导入第三方 DSM 进行几何校正与图像镶嵌，进一步优化空间定位精度，满足大规模、高精度拼接的需求。这种完善的校正与处理方案，确保了系统输出数据的科学性与准确性，尤其适合矿物填图、地质灾害调查等对数据精度要求极高的专业场景。用户通过标准化的处理流程，能够快速将原始数据转化为可用的分析产品，降低了后期数据处理的难度与时间成本。Nano HP 支持选配 16 线激光雷达，与高光谱设备共用 GNSS/IMU，同步采集点云。

Nano HP 的数据融合功能是其重要竞争力之一，通过配套软件能够实现高光谱数据与 EDM 数据的高效融合，将光谱特征信息与空间几何信息有机结合，拓展了数据的分析维度。高光谱数据擅长捕捉物质的化学成分与物理特性，而 EDM 数据（如激光雷达点云数据）则能精确反映空间三维结构，两者的融合能够实现 “光谱 + 空间” 的双重分析。在植被监测中，融合数据可同时反演植被的生理参数与三维冠层结构，为植被生长状况评估提供更全的依据；在地形测绘中，既能体现地表物质的光谱特征，又能精确呈现地形起伏与高程信息；在工程监测中，可实现建筑物、道路等设施的光谱特性与空间位置的综合分析。这种多维度的数据融合能力，让 Nano HP 的输出数据具备更丰富的信息价值，能够满足更复杂的分析需求，提升决策的科学性与准确性。Co-Aligned HP 全波段机载高光谱成像仪内部集成了高精度IMU/GNSS，采集控制模块和内置SSD，支持后差分处理。武汉凝视型高光谱成像仪代理商

Co-Aligned HP 重量 4.0kg，一体化 Turnkey 方案无需额外硬件集成。成都高光谱成像仪

Co-Aligned HP 的重要技术源于 Headwall 公司的 Offner 像差校正型凸面全息反射光栅技术，这一技术与我国 “高分 5 号” 卫星的高光谱成像技术同源，体现了当前高光谱成像领域的先进水平。该技术通过独特的光路设计，能够有效抑制杂散光干扰，减少成像畸变，同时赋予系统极高的热稳定性和信噪比，确保在复杂环境下仍能输出高质量的光谱数据。对于科研用户而言，数据质量直接决定了研究结果的可靠性，Co-Aligned HP 的技术配置恰好满足了科研工作对数据精度、稳定性的严苛要求。无论是实验室的精确分析，还是野外复杂环境下的长期监测，该技术都能为用户提供一致、可靠的高光谱数据，让科研工作者能够专注于数据解读与研究创新，无需担忧设备技术瓶颈带来的限制。成都高光谱成像仪