小型台式多晶X射线衍射仪（XRD）在环境科学领域的污染物结晶相分析中发挥着关键作用，能够准确鉴定复杂环境介质中的晶体污染物，为污染溯源、风险评估和治理技术开发提供科学依据。
大气颗粒物（PM）分析检测目标：工业源：石英（20.8°）、方铅矿（30.5°）、闪锌矿（28.5°）交通源：硫酸铵（20.3°）、硝酸钾（23.5°）沙尘源：长石（27.5°）、伊利石（8.8°）技术方案：滤膜直接检测（负载量>0.1mg/cm²）结合Rietveld精修定量各相占比。 交通事故现场金属碎片溯源。便携式多晶XRD衍射仪应用考古文物颜料成分分析
X射线衍射仪（XRD）是一种基于X射线与晶体材料相互作用原理的分析仪器，通过测量衍射角与衍射强度，获得材料的晶体结构、物相组成、晶粒尺寸、应力状态等信息。
化学与化工：催化剂、电池材料的表征与优化在化学工业中，XRD是研究催化剂、电池材料、纳米材料等的关键工具。催化剂的有效性与其晶相结构密切相关，XRD可鉴定活性组分（如沸石、贵金属纳米颗粒）的晶型，并监测反应过程中的相变。在锂离子电池领域，XRD用于分析正极材料（如磷酸铁锂、三元材料）的晶体结构稳定性，优化充放电性能。此外，XRD还可测定纳米材料的晶粒尺寸（通过谢乐公式），指导纳米颗粒的合成与改性。 小型台式XRD粉末衍射仪应用药物多晶型分析追踪核废料固化体稳定性。
小型台式多晶X射线衍射仪（XRD）在电子与半导体工业中扮演着关键角色，能够对器件材料的晶体结构进行精确表征，为工艺优化和质量控制提供科学依据。
金属硅化物工艺监控点：NiSi形成：Ni₂Si（44.5°）→NiSi（45.8°）转变温度监测比较好相变窗口：550±10℃（通过变温XRD确定）质量控制：要求NiSi（45.8°）峰强度比NiSi₂（47.3°）高10倍以上。
存储器件材料相变存储器（PCM）：Ge₂Sb₂Te₅的非晶-立方（29.8°）-六方（27.6°）相变监测相变速度与晶粒尺寸关系（Scherrer公式计算）铁电存储器：PZT薄膜的四方相（31.2°）与菱方相（30.8°）比例控制。
小型台式多晶X射线衍射仪（XRD）在刑事侦查物证分析中具有独特优势，能够快速、无损地提供物证的晶体结构信息，为案件侦破提供关键科学依据。
物残留分析检测目标：无机**：KNO₃（**）、NH₄NO₃（硝酸铵**）有机**：RDX（1,3,5-三硝基-1,3,5-三氮杂环己烷）技术方案：原位检测：现场尘土直接压片分析混合物解析：全谱拟合定量各组分（如**中S/KNO₃/C比例）特征数据：RDX主峰：13.6°、17.2°、28.9°NH₄NO₃多晶型鉴别（常温相IV：23.1°、29.4°） 油田岩芯储层物性快速评价。
小型台式多晶XRD衍射仪在燃料电池电解质材料晶体稳定性分析中具有重要应用价值，尤其适用于材料开发、工艺优化和质量控制环节。
相变行为分析氧化锆基电解质（YSZ）：监测立方相（c）-四方相（t）转变特征衍射峰对比：立方相：单峰（111）~30°四方相：分裂峰（111）~30°和（11-1）~30.2°（Cu靶）案例：3YSZ在800℃老化后的t相含量定量（Rietveld精修）（2）掺杂效应研究GDC（Gd掺杂CeO₂）：通过晶格参数变化评估固溶度计算公式：Δa/a₀ = k·r³（掺杂离子半径效应）典型数据：Gd²⁰Ce₀.₈O₂-δ的a=5.419 Å vs CeO₂的5.411 Å（3）热循环测试原位变温XRD分析：温度范围：RT-1000℃（需配备高温附件）监测指标：热膨胀系数（CTE）计算：α=(Δa/a₀)/ΔT相变温度确定（如LSGM在600℃的菱方-立方转变）（4）界面反应检测电解质/电极扩散层分析：特征杂质相识别（如NiO-YSZ界面生成La₂Zr₂O₇）半定量分析（检出限~1wt%） 研究PM2.5中晶体组分。进口定性粉末X射线衍射仪
青铜器腐蚀产物原位分析。便携式多晶XRD衍射仪应用考古文物颜料成分分析
X射线衍射仪在制药行业中的应用：药物多晶型研究与质量控制
X射线衍射（XRD）技术是制药行业药物研发和质量控制的**分析手段之一。药物活性成分（API）的多晶型现象（同一化合物存在不同晶体结构）直接影响药物的溶解度、稳定性、生物利用度及生产工艺。
晶型稳定性与相变研究温湿度影响：通过变温XRD（VT-XRD）监测晶型转变（如无水合物→水合物）。示例：**水合物（Caffeine Hydrate）在加热时脱水转化为无水晶型。制剂工艺影响：压片、研磨可能导致晶型转变（如乳糖α型→β型）。（3）优势晶型选择生物利用度优化：低溶解***物（如抗***药灰黄霉素）通过高能晶型（Metastable Form）提高溶解度。 便携式多晶XRD衍射仪应用考古文物颜料成分分析
