光电测试系统相关图片
  • INFRAMET光电测试系统报价,光电测试系统
  • INFRAMET光电测试系统报价,光电测试系统
  • INFRAMET光电测试系统报价,光电测试系统
光电测试系统基本参数
  • 品牌
  • MIKORN,IMPAC,INFRAMET
  • 型号
  • LAFT;DT;SIM,热成像光电测试系统
  • 产地
  • 上海
光电测试系统企业商机

Inframet生产的离轴反射式平行光管采用垂直结构,平行光管的焦平面位于反射镜垂直方向的上方。这种类型的平行光管实现了测试系统的简单化结构设计(需较小、较窄的光学平台)。而且,垂直结构的平行光管更为先进之处在于系统用于热像仪的测试时,垂直结构的黑体温度的均匀性要优于使用相同模块的水平结构。

Inframet采用典型的保护铝镀膜作为反射镜的镀膜材料,如果在可见光-近红外波段达到均匀的反射率,则保护铝镀膜可以作为次反射平面镜或者两面反射镜的镀膜材料。如果在远红外波段需要达到非常高的反射率则需要使用保护金作为辅助镜(或者两个反射镜)的材料。我们可以根据您所需口径和焦距精度等提供定制化平行光管,满足您的需求。 INFRAMET LAFT 热成像光电测试系 统助力科研,精细测量技术参数无忧。INFRAMET光电测试系统报价

INFRAMET光电测试系统报价,光电测试系统

BLIQ黑体是使用三个温度调节器构建的。

首先,标准Peltier元件能够在约0ºC至约100ºC范围内实现准确的温度调节。

第二,液体冷却器用于将黑体温度降低到零度以下。

第三,当温度超过100ºC时,可选加热器进行调节温度。BLIQ黑体附有专业用罩。当使用干燥氮气填充时,该罩可以保护黑体发射器免受结霜或湿气冷凝的影响。BLIQ黑体的特点是具有优异的温度分辨率、时间稳定性、温度均匀性和温度不确定性。所有这些功能使得BLIQ黑体被用作测试/校准热成像仪/IRFPA模块系统中的红外辐射源的理想选择,或国家标准实验室的温度标准。 模拟器光电测试系统维保Inframet DT 热成像光电测试系统,精细分析,助力医疗行业技术革新。

INFRAMET光电测试系统报价,光电测试系统

靶标是用于测试光电成像系统时创建参考图像的模块。Inframet提供的靶标可分为两类:1)无源靶标,2)有源靶标。无源靶标需要由黑体或标定光源产生均匀光束照射,生成参考图像模式的图像。这些靶标通常是大型测试系统位于平行光管焦平面的小模块。无源靶标的工作不需要电力供应。

版本型号:

FUT以下列不同标准尺寸的形式提供:FUT118:辐射源尺寸1100x800mm(11x8个100mm大小正方形区域);FUT1511:辐射源尺寸1500x1100mm(15x11个100mm大小正方形区域);FUT2020:辐射源尺寸1900x1900mm(19x19个100mm大小正方形区域);FUT2216:辐射源尺寸2200x1600mm(22x16个100mm大小正方形区域)。还可以定制化交付不同尺寸和图案的定制化FUT靶标。

OPO望远瞄准测试系统是一套用于测试光学瞄准系统的模块化多功能测试系统,OPO测试系统支持一系列重要参数的测试:分辨率,MTF(轴上,离轴),放大率,畸变,视场,透过率,渐晕,出瞳距离,出瞳直径,屈光度范围,视差等。被测望远瞄准系统可以由这些参数来表征其性能。OPO测试系统对于望远瞄准系统的生产商,采购商或者维修站来说都是比较好的测试工具。OPO系统是人工由操作计算机系统的概念建立的,该系统可以对被测望远镜瞄准具生成的参考图像进行分析。简单的手工操作设计理念,模块化设计,可靠性高,使用寿命长。光电精确测量,保障医疗器械精确操作。

INFRAMET光电测试系统报价,光电测试系统

TCB是由黑体发射器集成控制器电路构建的电脑化的黑体。

TCB黑体作为单一模块交付使用。用户只需连接两根标准电缆(电源和RS232电缆),就可以从PC控制黑体。该解决方案提高了TCB黑体更高的可靠性,对电磁干扰的抵抗力,并简化了其操作。TCB黑体有一系列版本供用户选择使用。有两个重点参数指标:黑体发射面的大小和温度范围。发射面尺寸由黑体代码:TCB-XD表示,其中X是发射面平方的近似尺寸,单位为英寸。

通常提供以下型号:TCB-2D,TCB-4D,TCB-6D,TCB-8D,TCB-12D,TCB-14D,TCB-2oD。在标准版本中,这些黑体温度范围从0℃至100℃进行了优化。 光电技术,为智能交通系统提供可靠信号检测。江西光电测试系统使用

JT400多传感器轴对准测试系统,保障电子元件性能稳定。INFRAMET光电测试系统报价

一系列不同的辐射源可以用在投影系统中(光谱范围扩展到SWIR的光源或者MTB黑体)以及一系列SWIR用于投影系统中的靶标也可用于测量。测量成像整机系统轴校准:电控的测试系统生成由被测试热像仪及相机生成的图像并计算两者之间的角度:a)热像仪在不同视场下的光轴;b)相机在不同镜头放大率下的光轴;c)热像仪与相机之间的光轴。激光系统轴对准:计算机控制的测量系统分析激光系统在激光敏感卡上生成的图像并计算光轴间的夹角:激光光轴(激光测距仪,激光指示器,激光照射器等)相对于成像系统光轴。注意:MS系统可以进行激光测距仪发射光轴的校准。这里假定激光测距仪发射光轴与接收已经调整好。这里可选测量激光测距仪的光轴对MS系统轴的能力。测量SWIR相机:SIWR投影系统与图像分析计算机系统相结合来测量SIWR相机。它包括CDT反射式平行光管,SWIR光源,和一组SWIR靶标;测量不同图像格式的热像仪:当采用模拟视频采集卡并且测量分辨率小于等于756×576的25Hz的视频图像时;也可以选择数字图像采集卡(CameraLink,或GigE,或LVDS,USB2.0)作为测量高分辨率高帧频的数字输出传感器。INFRAMET光电测试系统报价

与光电测试系统相关的**
信息来源于互联网 本站不为信息真实性负责