电气性能测试数字信号测试一致性测试

值得注意的是，在同步电路中，如果要得到稳定的逻辑状态，对于采样时钟和信号间的时序关系是有要求的。比如，如果时钟的有效边沿正好对应到数据的跳变区域附近，可能会采样到不可靠的逻辑状态。数字电路要得到稳定的逻辑状态，通常都要求在采样时钟有效边沿到来时被采信号已经提前建立一个新的逻辑状态，这个提前的时间通常称为建立时间(SetupTime);同样，在采样时钟的有效边沿到来后，被采信号还需要保持这个逻辑状态一定时间以保证采样数据的稳定，这个时间通常称为保持时间(HoldTime)。如图1.6所示是一个典型的D触发器对建立和保持时间的要求。Data信号在CLK信号的有效边沿到来t、前必须建立稳定的逻辑状态，在CLK有效边沿到来后还要保持当前逻辑状态至少tn这么久，否则有可能造成数据采样的错误。模拟信号和数字信号的相互转换；电气性能测试数字信号测试一致性测试

抖动的频率范围。抖动实际上是时间上的噪声，其时间偏差的变化频率可能比较  快也可能比较慢。通常把变化频率超过10Hz以上的抖动成分称为jitter,而变化频率低于  10Hz的抖动成分称为wander(漂移)。wander主要反映的是时钟源随着时间、温度等的缓  慢变化，影响的是时钟或定时信号的***精度。在通信或者信号传输中，由于收发双方都会  采用一定的时钟架构来进行时钟的分配和同步，缓慢的时钟漂移很容易被跟踪上或补偿掉， 因此wander对于数字电路传输的误码率影响不大，高速数字电路测量中关心的主要是高  频的jitter。电气性能测试数字信号测试一致性测试真实的数字信号频谱；

采用同步时钟的电路减少了出现逻辑不确定状态的可能性，而且可以减小电路和信号布线时延的累积效应，所以在现代的数字系统和设备中***采用。采用同步电路以后，数字电路就以一定的时钟节拍工作，我们把数字信号每秒钟跳变的比较大速率称为信号的数据速率(BitRate),单位通常是bps(bitspersecond)或者bit/s。大部分并行总线的数据速率和系统中时钟的工作频率一致，比如某51系列单片机工作在11.0592MHz时钟下，其数据线上的数据速率就是11.0592Mbps;也有些特殊的场合采用DDR方式(DoubleDataRate)采样，数据速率是其时钟工作频率的2倍，比如某DDR4内存芯片，其工作时钟是1333MHz,其数据速率是2666Mbps。还有些高速传输的情况，比如PCle、USB3.0、SATA、RapidIO、100G以太网等总线，时钟信息是通过编码嵌入在数据流中，这种情况下虽然在外部看不到有专门的时钟传输通道，但是其工作起来仍然有特定的数据速率。

简单的预加重对信号的频谱改善并不是完美的，比如其频率响应曲线并不一定与实际 的传输通道的损耗曲线相匹配，所以高速率总线会采用阶数更高、更复杂的预加重技术。 图1.28所示是一个3阶的预加重，其除了对跳变沿后面的第1个比特进行预加重处理外，跳变沿 之后的第2个比特的幅度也有变化。跳变沿后第1个比特的幅度变化有时也叫Post Cursorl,

跳变沿后的第2个比特的幅度变化有时也叫Post Cursor2。有些总线如PCIe3.0,会对跳变 沿前面的1个比特的幅度也进行调整，叫作Pre Cursor1,有时也称为PreShoot。 数字信号有哪些出来方式；

克劳德高速数字信号测试实验室

  数字信号测试方法：

需要特别注意，当数字信号的电压介于判决阈值的上限和下限之间时，其逻辑状态是不 确定的状态。所谓的“不确定”是指如果数字信号的电压介于判决阈值的上限和下限之间， 接收端的判决电路有可能把这个状态判决为逻辑0,也有可能判决为逻辑1。这种不确定是  我们不期望的，因此很多数字电路会尽量避免用这种不确定状态进行信号传输，比如会用一  个同步时钟只在信号电平稳定以后再进行采样。

示波器进行数字信号的幅度测试；电气性能测试数字信号测试一致性测试

数字信号处理系统的性能取决于3个因素：采样频率、架构、字长。电气性能测试数字信号测试一致性测试

数字信号测试串行总线的8b/10b编码(8b/10bEncoding)

前面我们介绍过，使用串行比并行总线可以节省更多的布线空间，芯片、电缆等的尺寸可以做得更小，同时传输速率更高。但是我们知道，在很多数字系统如CPU、DSP、FPGA等内部，进行数据处理的小单位都是Byte,即8bit,把一个或多个Byte的数据通过串行总线可靠地传输出去是需要对数据做些特殊处理的。将并行数据转换成串行信号传输的简单的方法如图1.19所示。比如发送端的数据宽度是8bit,时钟速率是100MHz,我们可以通过Mux(复用器)芯片把8bit的数据时分复用到1bit的数据线上，相应的数据速率提高到800Mbps(在有些LVDS的视频信号传输中比较常用的是把并行的7bit数据时分复用到1bit数据线上)。信号到达接收端以后，再通过Demux(解复用器)芯片把串行的信号分成8路低速的数据。 电气性能测试数字信号测试一致性测试