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HDMI测试

DDWG(DigitalDisplayWorkingGroup)组织制定，其技术来源于SiliconImage公司的TMDS(TransitionMinimizedDifferentialSignaling)信号传输技术，可以传送无压缩的数字视频信号到显示设备。DVI是个在PC、LCD、数字投影仪等设备上得到广泛应用的数字视频接口标准。但是由于DVI接口不支持数字音频传输，不能支持4K、深色、3D等应用，而且连接器过大不适合便携设备等原因，其市场已经逐渐被HDMI和Displayport取代。

克劳德高速数字信号测试实验室

地址：深圳市南山区南头街道中祥路8号君翔达大厦A栋2楼H区 一种HDMI兼容性自动化测试方法；多端口矩阵测试HDMI测试商家

二．HDMI端口插拔可靠性测试：1．接口热插拔可靠性：在碟机和接受端都工作的状态下，插拔HDMI接口，两端的设备是否工作正常，HDMI输出的音视频功能是否正常；2．ESD测试3．接口插拔寿命测试：多次插拔HDMI接口，测试HDMI接口寿命；判断标准：热插拔时接受端能正常输出HDMI的音视频信号，源端系统需仍正常工作；接口插拔寿命少需要5000次以上；三．HDMI输出的可靠性测试：1．源输出端驱动能力测试；2．连接线的衰减特性测试；3．高频和大容量数据传输可靠性；判断标准：长可以传输30米，保证声音图像正常；大容量DVD（多字幕，多通道）碟片播放画面的流畅性；4．开机，待机时，HDMI是否输出正常。测量HDMI测试价目表HDMI的协议层测试方法？

FRL模式如何实现带宽的增加FRL模式增加带宽的常用方法有两种，方法一：提升通道数据速率；方法二：速率不变时，增量通道数量。FRL模式这两种方法都有使用。在保持HDMI物理接口不变的情况，每个通道支持的速率增加到了12Gbps；另外，原来的TMDSClockchannel重定义为FRLLane3（时钟嵌入在数据流中）；TMDSData0/1/2分别对应FRLlane0/1/2，如下图所示，共计有4个数据通道。这样就实现了比较高48Gbps的带宽。信号的编码方式从TMDS的8b/10b改变为FRL16b/18b格式，编码效率更高。

FRL mode 可以分为两种模式：3 lanes 工作模式下， 支持3 Gbps和6Gbps 两种速率；未使用的Lane3， source 和sink 都需要使用差分50Ω～150Ω端接。4 lanes 工作模式下， 支持6/8/10/12 Gbps 四种速率。

由于FRL模式比较高支持12Gbps速率，要求示波器带宽不低于23G。有两种配置方式适用不同客户需求；另外需要HDMI2.1的治具，EDID/SCDCcontroller也需要支持HDMI2.1以实现自动化的测试。配置一：使用SMAcable方法两台DPO70000SX示波器，使用UltraSynccable同步，可以把所有通道的skew调整到1ps内，确保所有单端信号采集的同步性。治具到示波器的连接使用SMAcable，支持同时采集4个laneFRL信号，测试过程不需要更改硬件连接，信号路径没有衰减，测试速度快。

配置二：使用Tri-mode探棒P76/77xxP76/77xx探棒搭配SMA转换头可以实现与治具的连接。

利用Tri-mode探棒的特性，示波器自动控制探棒工作在单端模式A-GND和B-GND，分多次完成对4 lane FRL信号的采集。 测试过程也不需要更改硬件连接。连接示意图如下，示波器会对探棒进行自动去嵌，消除探棒对信号的影响。 HDMI一致性测试规范操作；

克劳德高速数字信号测试实验室重心团队成员从业测试领域10年以上。实验室配套KEYSIGHT/TEK主流系列示波器、误码仪、协议分析仪、矢量网络分析仪及附件，使用PCIE/USB-IF/WILDER等行业指定品牌夹具。坚持以专业的技术人员，严格按照行业测试规范，配备高性能的权能测试设备，提供给客户更精细更权能的全方面的专业服务。克劳德高速数字信号测试实验室提供具深度的专业知识及一系列认证测试、预认证测试及错误排除信号完整性测试、多端口矩阵测试、HDMI测试、USB测试等方面测试服务。HDMI1.4总线上的信号；浙江HDMI测试调试

从测试方案的选择入手,降低HDMI1.4/1.4a规范的采用成本；多端口矩阵测试HDMI测试商家

HDMI测试内容

1眼图

2时钟抖动

3时钟占空比

4信号对时间偏移

5上升时间/下降时间

6过冲/下冲

7信号对内时间偏移

8低电平输出电压

HDMI测试环境

示波器8GHz以上

HDMI测试软件

示波器差分探头+8GHz以上

HDMI测试夹具

HDMI测试过程

HDMI测试报告内容

测试夹具:HDMI一致性测试介绍 电路板测试服务 ① SI信号完整性测试,主要内容是电源上电时序、复位、时钟、I2C、SPI、Flash、DDR、JTAG接口、CPLD接口测试、UR.

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