徕卡显微镜属于传统的光学显微镜类型，品质和工艺水平都是非常高的，其专业性和显微镜内部的光学材料也是其他显微镜所不可比的。徕卡显微镜主要应用于科研、医疗、医学等领域，其功能和用途非常，并且能够精细地进行微观观察和分析。在医学检查中逐渐被运用到各类手术中，例如眼科手术、牙科手术、手术等。此外，还被广泛应用于物理、化学、天文、生物、化工等各种学... 【查看详情】

徕卡金相显微镜是将光学显微镜技术、光电转换技术、计算机图像处理技术很好地结合在一起而开发研制成的高科技产品，可以在计算机上很方便地观察金相图像，从而对金相图谱进行分析，评级等以及对图片进行输出、打印。金相显微镜是专门用于观察金属和矿物等不透明物体金相组织的显微镜。这些不透明物体无法在普通的透射光显微镜中观察，因此金相和普通显微镜的主要差别... 【查看详情】

比表面积及孔隙率测定仪BET比表面及孔径分布测试仪，比表面积及孔隙率测定仪精微高博是BET比表面及孔径分布测试仪，比表面积及孔隙率测定仪相当有**的厂商,精微高博BET比表面及孔径分布测试仪，比表面积及孔隙率测定仪一并荣获中国计量院测试证书品牌：茂鑫实业（型号：徕卡DM4M224参考报价：198000元孔隙率的测量方法6.真密度测试、孔隙... 【查看详情】

孔隙率测量仪（静态容量法）自主研发的全自动智能化比表面积和孔径检测仪器,采用静态容量法测试原理,众多科研院所及500强企业应用案例,相比国内同类产品,多项技术的采用使产品整体性能更加完善,测试结果的准确性和一致性进一步提高,测试过程的稳定性更强,达到国际同类产品先进水平,部分功能超越国外产品.静态容量法孔隙率测量仪是与国外同类产品相同质量... 【查看详情】

徕卡偏光显微镜是徕卡显微镜系列中的一种，偏光显微镜是一种在其光学系统中包含偏振器的显微镜，它能够显示和分析材料的各种光学性质，如折射率、双折射、吸收、散射等。徕卡品牌通常与高质量、高级别的光学设备相关联，因此徕卡偏光显微镜被认为是一种高精密的设备。DM2700P徕卡偏光显微镜是地球科学，塑料和聚合物行业，液晶检查以及更多领域中各种常规检查... 【查看详情】

茂鑫供应孔隙率测试仪徕卡全自动孔隙率检测仪孔隙率测试仪在国外普遍采用，徕卡全自动孔隙率检测仪孔隙率测试仪，性能达到国外同类水平，深受国内用户欢迎。品牌：徕卡型号：DM4M孔隙率测定仪、微孔测试仪及孔隙分布分析仪仪器简介：孔隙率测定仪徕卡DM4M(微孔测试仪及孔隙分布分析仪)目前国内同类产品***获得高科技新产品证书的仪器，其自动化程度与测... 【查看详情】

以保证试样材质的稳定及方便后续的测试计算。(b)对冲出的试样利用电子天平对试样质量进行称重，采用千分尺对试样厚度进行测试，每个试样至少称重、测厚三次并记录，然后求平均值，以保证试样称重、测厚的准确性。(c)将试样放置在盛有王水(HNO3=HCl=1:3)的烧杯中浸泡24小时然后取出试样放入盛有NaOH的溶液中多次漂洗，以确保试样隔膜表面的... 【查看详情】

肉眼看不到的微观世界是另一番神奇的景象，没有显微镜我们鲜有机会去观察那个神奇的世界，但是现在你有机会了！这个教程将教大家制作一个手机支架，将你的手机变成一个高倍数码显微镜！它的效果完全可以达到实验室一般显微镜的水平，放大倍数可达175倍，通过它，植物的细胞和细胞核可以很轻易地观察到。除了观察细胞，它还可以用来做令人惊叹的微距拍摄。一、工具... 【查看详情】

PTS-S系列三维扫描仪共有三种型号，每种型号分别适用于扫描不同大小的物体，为满足客户专业产品设计而研制，操作简捷迅速，.地运用于工业零部件的三维扫描和逆向设计等领域。产品特点：●非接触式白光扫描：避免与物体表面接触，可以测量柔软的物体；●速度快、精度高：能在5秒内获取百万个非常规则的扫描点数据，测量精度可达～；●多视角全自动拼接：采用标... 【查看详情】

东西南北）完全一致每次手术者调整完显微镜后，再调整助手镜的位置，不要在手术者调整显微镜时调整助手镜每次调整助手镜的位置之后都要再次调整助手镜的图像方向保持适当的显微镜工作距离（目镜前端至术野的距离），尽量在显微镜可用工作距离的中间段距离内手术距离太近手术器械容易触碰显微镜前端，造成污染或妨碍操作距离太远则增加手术疲劳中间段距离手术显微镜的... 【查看详情】

茂鑫实业（上海）有限公司作为一家代理德国徕卡清洁度检测仪DM4M、孔隙率检测仪、3D扫描仪DVM6、影像测量仪等检测设备的公司，茂鑫实业将在展览会上展示其新的产品和技术，以满足客户的需求。1.斥力模式原子力显微镜（AFM）微悬臂是原子力显微镜（AFM）关键组成部分之一，通常由一个一般100～500μm长和大约500nm～5μm厚的硅片或氮... 【查看详情】

LFM是检测表面不同组成变化的SFM技术。它可以识别聚合混合物、复合物和其他混合物的不同组分间转变，鉴别表面有机或其他污染物以及研究表面修饰层和其他表面层覆盖程度。它在半导体、高聚物沉积膜、数据贮存器以及对表面污染、化学组成的应用观察研究是非常重要的。LFM之所以能对材料表面的不同组分进行区分和确定，是因为表面性质不同的材料或组分在LFM... 【查看详情】