DataRay 其他类似产品DataRay 提供多种光束质量分析仪和光斑分析仪,适用于不同的波长范围和应用场景。以下是部分产品及其特点:1. WinCamD-LCM 系列特点:高分辨率 CMOS 传感器,4.2 MPixel,2048×2048 像素。有效成像面积 11.3 mm×11.3 mm,像素尺寸 5.5 µm。支持连续光和脉冲光...
查看详细 >>DataRay的狭缝分析仪(如BeamR2和BeamMap2)可以运用在多个领域,例如高重复脉冲测量:支持高重复脉冲激光测量,**小脉冲重复率(PRR)约为500/(光束直径,µm)kHz。USB2.0供电与便携性:通过USB2.0端口供电,配备3米长的柔性电缆,无需外部电源。自动增益与实时分析:自动增益功能,支持实时二维狭缝测量,更新速...
查看详细 >>DataRay WinCamD-LCM 光束质量分析仪产品概述WinCamD-LCM 是一款高性能的光束质量分析仪,专为连续波(CW)和脉冲激光光束分析设计。它采用 1 英寸 CMOS 传感器,具有高分辨率和高帧率,适用于多种波长范围。主要特点波长范围:355 nm 至 1150 nm(标准型号),可选 190 nm 至 1150 nm(...
查看详细 >>WinCamD-QD特点:适用于 400 nm 至 1700 nm 波长范围的光束质量分析。量子点探测器,15 µm 像素尺寸,**小可检测光束直径为 0.15 mm。应用:适用于通信波段(如 1550 nm)的激光检测。广泛应用于科研、工业和医疗领域。5. BladeCam-HR特点:高分辨率 CMOS 传感器,1.3 MPixel,1...
查看详细 >>确保系统性能光通信:在光纤通信系统中,高质量的光束可以减少传输损耗,提高信号的传输效率和质量。光谱分析:在光谱分析中,高质量的光束可以提高测量的精度和可靠性。5. 质量控制和标准化生产质量控制:在激光器的生产过程中,M² 测量可以用于质量控制,确保每台激光器的光束质量符合标准。国际标准:M² 测量符合国际标准(如 ISO 11146),为...
查看详细 >>测量精度传感器类型:选择合适的传感器类型,如 CCD 或 CMOS。虽然 CCD 在影像品质上可能优于 CMOS,但 CMOS 具有低成本、低功耗和高整合度的特点。像素大小:像素大小影响可测量的**小光束尺寸。一般要求**小测试光斑直径大于等于10个像素点大小。动态范围和信噪比:高动态范围和高信噪比的传感器可以提供更准确的测量结果。4. ...
查看详细 >>如何选择 DataRay 光束质量分析仪选择合适的 DataRay 光束质量分析仪需要综合考虑多个因素,包括应用需求、光束特性、测量精度、传感器类型、软件功能等。以下是一些关键点,帮助您选择合适的光束质量分析仪:1. 应用需求激光加工:在激光切割、焊接、打孔等加工过程中,需要实时监测光束质量,优化加工参数,提高加工精度和效率。光通信:在光...
查看详细 >>光束特性光束半径或直径范围:确定要测量的光束半径或直径范围,以及所需的测量精度。光束形状:考虑光束是否接近高斯分布,或者具有复杂的形状,如二极管条的输出。光功率范围:确定光功率范围,是否需要大动态范围的设备,或者是否可以在狭窄的光功率范围内工作。3. 测量精度传感器类型:选择合适的传感器类型,如 CCD 或 CMOS。虽然 CCD 在影像...
查看详细 >>测量精度传感器类型:选择合适的传感器类型,如 CCD 或 CMOS。虽然 CCD 在影像品质上可能优于 CMOS,但 CMOS 具有低成本、低功耗和高整合度的特点。像素大小:像素大小影响可测量的**小光束尺寸。一般要求**小测试光斑直径大于等于10个像素点大小。动态范围和信噪比:高动态范围和高信噪比的传感器可以提供更准确的测量结果。4. ...
查看详细 >>软件功能强大**全功能软件:支持 ISO 11146 标准,提供 M²、D4σ、Knife-Edge 等参数测量。实时数据处理:支持实时非均匀性校正(NUC)与背景扣除。多相机支持:支持多台相机并行采集,提高测量效率。11. 应用领域***中远红外激光测量:适用于 CO₂ 激光器(10.6 µm)、量子级联激光器(QCL)等。现场服务与维...
查看详细 >>DataRay WinCamD-IR-BB 中远红外光束质量分析仪产品概述WinCamD-IR-BB 是一款专为中波红外(MWIR)和远红外(FIR)波段激光设计的光束质量分析仪,覆盖波长范围从 2 µm 到 16 µm。该设备基于微测辐射热计(microbolometer)技术,具有高灵敏度和自动非均匀性校正功能,能够进行 ISO 11...
查看详细 >>光束分析仪测量 M² 的方法光束质量因子 M² 是评估激光光束质量的重要参数,表示实际激光光束与理想高斯光束的接近程度。以下是光束分析仪测量 M² 的主要方法和步骤:1. 标准多次成像法根据国际标准化组织(ISO 11146)标准,多次成像法是测量 M² 的常用方法。具体步骤如下:光束采样:在光束传播路径上,使用光束分析仪在多个不同位置(...
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